Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники
Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие определить, до какого уровня целесообразно повышать вероятность безотказной рабо...
Збережено в:
| Дата: | 2002 |
|---|---|
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2002
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70777 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники / Б.П. Креденцер, С.В. Ленков, Р.А. Салимов, Д.А. Перегудов, С.А. Шомин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-70777 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-707772014-11-13T03:01:41Z Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники Креденцер, Б.П. Ленков, С.В. Салимов, Р.А. Перегудов, Д.А. Шомин, С.А. Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие определить, до какого уровня целесообразно повышать вероятность безотказной работы одного элемента (элементы идентичны) и начиная с какого уровня следует их резервировать, чтобы получить максимальное значение показателя безотказности резервированной подсистемы. The problem parameter's optimization of non-failure operation of subsystems in complex devices of microelectronics with the simultaneous account of modernization of elements and their reservations is considered. The settlement ratio are received, allowing to define, up to what level it is expedient to raise probability of non-failure operation of one element (elements are identical) and since what level it is necessary to reserve them to receive the maximal value of a parameter of non-failure operation of a reserved subsystem. 2002 Article Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники / Б.П. Креденцер, С.В. Ленков, Р.А. Салимов, Д.А. Перегудов, С.А. Шомин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70777 621.396.6 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| spellingShingle |
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Креденцер, Б.П. Ленков, С.В. Салимов, Р.А. Перегудов, Д.А. Шомин, С.А. Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие определить, до какого уровня целесообразно повышать вероятность безотказной работы одного элемента (элементы идентичны) и начиная с какого уровня следует их резервировать, чтобы получить максимальное значение показателя безотказности резервированной подсистемы. |
| format |
Article |
| author |
Креденцер, Б.П. Ленков, С.В. Салимов, Р.А. Перегудов, Д.А. Шомин, С.А. |
| author_facet |
Креденцер, Б.П. Ленков, С.В. Салимов, Р.А. Перегудов, Д.А. Шомин, С.А. |
| author_sort |
Креденцер, Б.П. |
| title |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| title_short |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| title_full |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| title_fullStr |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| title_full_unstemmed |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| title_sort |
оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2002 |
| topic_facet |
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70777 |
| citation_txt |
Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники / Б.П. Креденцер, С.В. Ленков, Р.А. Салимов, Д.А. Перегудов, С.А. Шомин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT kredencerbp optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustrojstvahmikroélektroniki AT lenkovsv optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustrojstvahmikroélektroniki AT salimovra optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustrojstvahmikroélektroniki AT peregudovda optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustrojstvahmikroélektroniki AT šominsa optimizaciâurovnâbezotkaznostivsložnyhustrojstvahmikroélektroniki |
| first_indexed |
2023-10-18T18:59:16Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:59:16Z |
| _version_ |
1796145699649224704 |