Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность
Предложена и рассмотрена физическая модель, связывающая показатели надежности и основные значимые параметры термоэлектрического устройства (ТЭУ). Показано, что для повышения надежности функционирования ТЭУ следует выбирать режим работы ТЭУ, близкий к режиму εmax. Полученное соотношение позволяет оце...
Збережено в:
| Дата: | 2001 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2001
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70872 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность / В.Ф. Моисеев, В.П. Зайков // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 30-32. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-70872 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-708722014-11-16T03:01:52Z Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность Моисеев, В.Ф. Зайков, В.П. Обеспечение тепловых режимов аппаратуры Предложена и рассмотрена физическая модель, связывающая показатели надежности и основные значимые параметры термоэлектрического устройства (ТЭУ). Показано, что для повышения надежности функционирования ТЭУ следует выбирать режим работы ТЭУ, близкий к режиму εmax. Полученное соотношение позволяет оценить влияние достаточно широкого круга физических параметров на показатели надежности ТЭУ и вести оптимизированное проектирование РЭА с использованием ТЭУ на основе прогнозируемых показателей надежности. 2001 Article Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность / В.Ф. Моисеев, В.П. Зайков // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 30-32. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70872 621.362.2 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Обеспечение тепловых режимов аппаратуры Обеспечение тепловых режимов аппаратуры |
| spellingShingle |
Обеспечение тепловых режимов аппаратуры Обеспечение тепловых режимов аппаратуры Моисеев, В.Ф. Зайков, В.П. Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
Предложена и рассмотрена физическая модель, связывающая показатели надежности и основные значимые параметры термоэлектрического устройства (ТЭУ). Показано, что для повышения надежности функционирования ТЭУ следует выбирать режим работы ТЭУ, близкий к режиму εmax. Полученное соотношение позволяет оценить влияние достаточно широкого круга физических параметров на показатели надежности ТЭУ и вести оптимизированное проектирование РЭА с использованием ТЭУ на основе прогнозируемых показателей надежности. |
| format |
Article |
| author |
Моисеев, В.Ф. Зайков, В.П. |
| author_facet |
Моисеев, В.Ф. Зайков, В.П. |
| author_sort |
Моисеев, В.Ф. |
| title |
Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность |
| title_short |
Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность |
| title_full |
Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность |
| title_fullStr |
Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность |
| title_full_unstemmed |
Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность |
| title_sort |
влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2001 |
| topic_facet |
Обеспечение тепловых режимов аппаратуры |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70872 |
| citation_txt |
Влияние режима работы термоэлектрического устройства на его надежность / В.Ф. Моисеев, В.П. Зайков // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 30-32. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT moiseevvf vliânierežimarabotytermoélektričeskogoustrojstvanaegonadežnostʹ AT zajkovvp vliânierežimarabotytermoélektričeskogoustrojstvanaegonadežnostʹ |
| first_indexed |
2023-10-18T18:59:29Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:59:29Z |
| _version_ |
1796145709089554432 |