Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена...
Збережено в:
| Дата: | 2001 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2001
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70874 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-70874 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-708742014-11-16T03:02:10Z Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. Технология производства Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа. 2001 Article Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70874 621.382 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Технология производства Технология производства |
| spellingShingle |
Технология производства Технология производства Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа. |
| format |
Article |
| author |
Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. |
| author_facet |
Белоус, А.И. Емельянов, В.А. Ефименко, С.А. Прибыльский, А.В. |
| author_sort |
Белоус, А.И. |
| title |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_short |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_full |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_fullStr |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_full_unstemmed |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения |
| title_sort |
повышение достоверности отбраковки бис методом понижения питающего напряжения |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2001 |
| topic_facet |
Технология производства |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70874 |
| citation_txt |
Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT belousai povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ AT emelʹânovva povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ AT efimenkosa povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ AT pribylʹskijav povyšeniedostovernostiotbrakovkibismetodomponiženiâpitaûŝegonaprâženiâ |
| first_indexed |
2023-10-18T18:59:29Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:59:29Z |
| _version_ |
1796145709302415360 |