2025-02-23T05:50:11-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-70897%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T05:50:11-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-70897%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T05:50:11-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T05:50:11-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Установка для выращивания малодислокационных монокристаллов GaAs большого диаметра
Изложены особенности разработанной установки для выращивания монокристаллов GaAs диаметром 80—100 мм под слоем флюса в условиях низкого температурного градиента. Монокристаллы GaAs характеризуются низкой плотностью дислокаций (5·10⁴ см⁻²) и равномерностью ее распределения по сечению. Отмечается нест...
Saved in:
Main Authors: | Ковтун, Г.П., Кравченко, А.И., Щербань, А.П. |
---|---|
Format: | Article |
Language: | Russian |
Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2001
|
Series: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
Subjects: | |
Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70897 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items
2025-02-23T05:50:11-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&rows=40&rows=5&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-70897%22&qt=morelikethis
2025-02-23T05:50:11-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&rows=40&rows=5&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-70897%22&qt=morelikethis
2025-02-23T05:50:11-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T05:50:11-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Similar Items
-
Установка электрохимического профилирования для диагностирования эпитаксиальных структур GaAs
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2005) -
Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления
by: Будянский, А.М., et al.
Published: (2001) -
Оборудование для зондовой диагностики и контроля плазменных технологических процессов
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2002) -
Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин “Оникс”
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002) -
Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2004)