A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films
The problems of ultrathin stable electrically continuous metal films fabrication and their electron-transport properties are discussed. To prevent the coagulation process of metal grains during metal film condensation, the surfactant underlayers utilizing is discussed. Analysis of current theoretica...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2010 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2010
|
| Назва видання: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/72472 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films / R.I. Bigun, Yu.A. Kunitsky, Z.V. Stasyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 1. — С. 129-142. — Бібліогр.: 50 назв. — англ. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-72472 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-724722014-12-24T03:01:49Z A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films Bigun, R.I. Kunitsky, Yu.A. Stasyuk, Z.V. The problems of ultrathin stable electrically continuous metal films fabrication and their electron-transport properties are discussed. To prevent the coagulation process of metal grains during metal film condensation, the surfactant underlayers utilizing is discussed. Analysis of current theoretical concepts concerning electron-transport properties of metal film is performed. The experimental data are explained within the scope of the modern theoretical models. Обговорено проблему створення надтонких (товщина шару від 2 нм до 50 нм) електрично суцільних стабільних провідних шарів металів і вивчення їхніх електричних властивостей. Розглянуто можливість застосування сурфактантних підшарів для запобігання коаґуляції зародків кристалізації в процесі росту плівок. Здійснено аналізу сучасного стану модельних уявлень про перенесення заряду в металевих зразках обмежених розмірів, і на його основі проведено трактування результатів експериментального дослідження надтонких металевих плівок. Обсуждается проблема создания сверхтонких (толщина слоя от 2 нм до 50 нм) электрически сплошных проводящих стабильных слоев металлов и исследования их электрических свойств. Рассмотрена возможность применения сурфактантных подслоев для предотвращения коагуляции зародышей кристаллизации в процессе роста пленок. Сделан анализ современного состояния модельных представлений о переносе заряда в металлических образцах ограниченных размеров, и на его основе проведена трактовка результатов экспериментального исследования сверхтонких металлических пленок. 2010 Article A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films / R.I. Bigun, Yu.A. Kunitsky, Z.V. Stasyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 1. — С. 129-142. — Бібліогр.: 50 назв. — англ. 1816-5230 PACS numbers: 72.10.Fk, 73.23.Ad, 73.50.Bk, 73.61.At, 85.40.Xx http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/72472 en Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| description |
The problems of ultrathin stable electrically continuous metal films fabrication and their electron-transport properties are discussed. To prevent the coagulation process of metal grains during metal film condensation, the surfactant underlayers utilizing is discussed. Analysis of current theoretical concepts concerning electron-transport properties of metal film is performed. The experimental data are explained within the scope of the modern theoretical models. |
| format |
Article |
| author |
Bigun, R.I. Kunitsky, Yu.A. Stasyuk, Z.V. |
| spellingShingle |
Bigun, R.I. Kunitsky, Yu.A. Stasyuk, Z.V. A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| author_facet |
Bigun, R.I. Kunitsky, Yu.A. Stasyuk, Z.V. |
| author_sort |
Bigun, R.I. |
| title |
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films |
| title_short |
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films |
| title_full |
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films |
| title_fullStr |
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films |
| title_full_unstemmed |
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films |
| title_sort |
charge transport in ultrathin electrically continuous metal films |
| publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| publishDate |
2010 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/72472 |
| citation_txt |
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films / R.I. Bigun, Yu.A. Kunitsky, Z.V. Stasyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 1. — С. 129-142. — Бібліогр.: 50 назв. — англ. |
| series |
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| work_keys_str_mv |
AT bigunri achargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms AT kunitskyyua achargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms AT stasyukzv achargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms AT bigunri chargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms AT kunitskyyua chargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms AT stasyukzv chargetransportinultrathinelectricallycontinuousmetalfilms |
| first_indexed |
2023-10-18T19:02:58Z |
| last_indexed |
2023-10-18T19:02:58Z |
| _version_ |
1796145866328768512 |