2025-02-23T15:09:51-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-74476%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T15:09:51-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-74476%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T15:09:51-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T15:09:51-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Рентґенова динамічна дифрактометрія дефектної структури монокристалів ґранатів

Рентґенова динамічна дифрактометрія дефектної структури монокристалів ґранатів

Створено теоретичну базу сучасної кристалографії реальних монокристалів зі складним базисом, яка враховує наявність різних структурних дефектів і дозволяє самоузгодженим чином описувати когерентну і дифузну складові дифракційних картин від таких кристалів. Розраховано комплексні структурні фактори і...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Пилипів, В.М., Остафійчук, Б.К., Владімірова, Т.П., Кисловський, Є.М., Молодкін, В.Б., Оліховський, С.Й., Решетник, О.В., Скакунова, О.С., Лізунова, С.В.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2011
Series:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/74476
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:Створено теоретичну базу сучасної кристалографії реальних монокристалів зі складним базисом, яка враховує наявність різних структурних дефектів і дозволяє самоузгодженим чином описувати когерентну і дифузну складові дифракційних картин від таких кристалів. Розраховано комплексні структурні фактори і Фур’є-компоненти поляризовности досконалого кристалу ґадоліній-ґалійового ґранату Gd₃Ga₅O₁₂ (ҐҐҐ) для набору рефлексів і двох характеристичних довжин хвиль Рентґенового випромінення. Досліджено залежності цих дифракційних параметрів від концентрацій антиструктурних дефектів і вакансій. Шляхом аналізи виміряних кривих дифракційного відбивання з використанням формул статистичної динамічної теорії дифракції в неідеальних кристалах встановлено характеристики як точкових дефектів, так і мікродефектів, а також відповідні їм дифракційні параметри досліджуваного монокристалу ҐҐҐ.

Similar Items