Исследование зондовых методов получения элементов наноэлектронных приборов и технологии диагностики с использованием электростатической силовой микроскопии
В работе исследованы зондовые методы построения наноэлектронных приборов и их диагностики с использованием электростатической силовой микроскопии. Рассмотрены пути повышения информативности измерений распределений зарядов и потенциалов в процессе получения элементов наноструктур....
Збережено в:
Дата: | 2011 |
---|---|
Автори: | Ходаковский, Н.И., Ларкин, С.Ю., Галстян, Г.Г. |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2011
|
Назва видання: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/74588 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Исследование зондовых методов получения элементов наноэлектронных приборов и технологии диагностики с использованием электростатической силовой микроскопии / Н.И. Ходаковский, С.Ю. Ларкин, Г.Г. Галстян // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2011. — Т. 9, № 3. — С. 535-542. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Исследование аминомодифицированных зондов для атомно-силовой микроскопии биомолекул
за авторством: Лиманский, А.П.
Опубліковано: (2002) -
Исследование аминомодифицированной слюды как субстрата для атомно-силовой микроскопии нуклеиновых кислот
за авторством: Лиманский, А.П.
Опубліковано: (2001) -
Определение адгезионной прочности тонких оксидных покрытий на диэлектрических материалах методом атомно-силовой микроскопии
за авторством: Билоконь, С.А., та інші
Опубліковано: (2014) -
Гибридизированные полисиликат/полиэпоксиакрилат-уретанoмочевинные системы.IІ. Исследование морфологии методом атомной силовой микроскопии
за авторством: Грищук, С., та інші
Опубліковано: (2008) -
Влияние упругих деформаций на локальные токовые характеристики отдельных нанокластеров Ge на Si, исследованных методом проводящей атомно-силовой микроскопии
за авторством: Рубежанская, М.Ю.
Опубліковано: (2012)