Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием

Предложена квантово-механическая модель рабочей зоны алмазного острия сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) в виде набора полубесконечных цепочек сферических потенциальных ям заданной глубины и радиуса. На основании предложенной модели выполнен расчёт туннельного тока в системе «алмазное острие—по...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Видавець:	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Дата:	2011
Автори:	Грушко, В., Новиков, Н., Лысенко, О., Щербаков, А., Мицкевич, Е.
Формат:	Стаття
Мова:	Russian
Опубліковано:	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2011
Назва видання:	Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Онлайн доступ:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75120
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:	Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием / В. Грушко, Н. Новиков, О. Лысенко, А. Щербаков, Е. Мицкевич // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2011. — Т. 9, № 4. — С. 735-746. — Бібліогр.: 28 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	irk-123456789-75120
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-751202015-01-27T03:02:05Z Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием Грушко, В. Новиков, Н. Лысенко, О. Щербаков, А. Мицкевич, Е. Предложена квантово-механическая модель рабочей зоны алмазного острия сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) в виде набора полубесконечных цепочек сферических потенциальных ям заданной глубины и радиуса. На основании предложенной модели выполнен расчёт туннельного тока в системе «алмазное острие—поверхность» зондового микроскопа. Поскольку топографический режим работы СЗМ, связанный с наномодификацией поверхности, требует наличия существенного взаимодействия зонда с поверхностью образца, при нахождении зависимости туннельного тока от параметров системы «острие—образец» СЗМ использовался непертурбативный подход. На основании исследования полученного выражения для туннельного тока установлена максимальная аппаратная погрешность измерения туннельного тока, при которой возможно наличие атомарного разрешения в режиме СЗМ-топографии. Запропоновано квантово-механічний модель робочої зони діямантового вістря сканівного зондового мікроскопа (СЗМ) у вигляді набору напівнескінченних ланцюжків сферичних потенціяльних ям заданої глибини та радіюса. На підставі запропонованого моделю виконано розрахунок тунельного струму в системі «діямантове вістря—поверхня» зондового мікроскопа. Оскільки топографічний режим роботи СЗМ, пов’язаний з наномодифікацією поверхні вимагає наявности істотної взаємодії зонда з поверхнею зразка, при знаходженні залежности тунельного струму від параметрів системи «вістря—зразок» СЗМ використовувався непертурбативний підхід. На підставі дослідження одержаного виразу для тунельного струму встановлено максимальну апаратну похибку міряння тунельного струму, за якої можлива наявність атомарної роздільчої здатности в режимі СЗМ-топографії. Quantum-mechanical model of the working zone of diamond tip of the scanning probe microscope (SPM) is proposed as a set of semi-infinite chains formed by the spherical potential wells with specified depth and radius. Computation of the tunnelling current in the ‘diamond tip—surface’ system of the SPM based on the proposed model is performed. Since the SPM operation mode related to the surface modification requires substantial interaction between the SPM tip and the specimen surface, the non-perturbative approach is used to find the dependence of the tunnelling current on SPM ‘tip—specimen’ system parameters. Study of the obtained expression defined the hardware uncertainty of the instrument measuring of tunnelling current, which still permits atomic resolution for the instrument topographic operation mode. 2011 Article Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием / В. Грушко, Н. Новиков, О. Лысенко, А. Щербаков, Е. Мицкевич // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2011. — Т. 9, № 4. — С. 735-746. — Бібліогр.: 28 назв. — рос. 1816-5230 PACS numbers: 07.35.+k, 07.79.-v, 68.37.-d, 73.40.Gk, 73.63.Rt, 81.05.uj, 81.07.Lk http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75120 ru Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
description	Предложена квантово-механическая модель рабочей зоны алмазного острия сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) в виде набора полубесконечных цепочек сферических потенциальных ям заданной глубины и радиуса. На основании предложенной модели выполнен расчёт туннельного тока в системе «алмазное острие—поверхность» зондового микроскопа. Поскольку топографический режим работы СЗМ, связанный с наномодификацией поверхности, требует наличия существенного взаимодействия зонда с поверхностью образца, при нахождении зависимости туннельного тока от параметров системы «острие—образец» СЗМ использовался непертурбативный подход. На основании исследования полученного выражения для туннельного тока установлена максимальная аппаратная погрешность измерения туннельного тока, при которой возможно наличие атомарного разрешения в режиме СЗМ-топографии.
format	Article
author	Грушко, В. Новиков, Н. Лысенко, О. Щербаков, А. Мицкевич, Е.
spellingShingle	Грушко, В. Новиков, Н. Лысенко, О. Щербаков, А. Мицкевич, Е. Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
author_facet	Грушко, В. Новиков, Н. Лысенко, О. Щербаков, А. Мицкевич, Е.
author_sort	Грушко, В.
title	Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием
title_short	Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием
title_full	Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием
title_fullStr	Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием
title_full_unstemmed	Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием
title_sort	теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием
publisher	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
publishDate	2011
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75120
citation_txt	Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием / В. Грушко, Н. Новиков, О. Лысенко, А. Щербаков, Е. Мицкевич // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2011. — Т. 9, № 4. — С. 735-746. — Бібліогр.: 28 назв. — рос.
series	Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
work_keys_str_mv	AT gruškov teoretičeskoeissledovaniepovedeniâtunnelʹnogotokavskaniruûŝemzondovommikroskopesalmaznymostriem AT novikovn teoretičeskoeissledovaniepovedeniâtunnelʹnogotokavskaniruûŝemzondovommikroskopesalmaznymostriem AT lysenkoo teoretičeskoeissledovaniepovedeniâtunnelʹnogotokavskaniruûŝemzondovommikroskopesalmaznymostriem AT ŝerbakova teoretičeskoeissledovaniepovedeniâtunnelʹnogotokavskaniruûŝemzondovommikroskopesalmaznymostriem AT mickeviče teoretičeskoeissledovaniepovedeniâtunnelʹnogotokavskaniruûŝemzondovommikroskopesalmaznymostriem
first_indexed	2023-10-18T19:08:48Z
last_indexed	2023-10-18T19:08:48Z
_version_	1796146127412658176

Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием

Репозиторії

Схожі ресурси