Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём
Представлены исследования стекла системы Ag₂O—B₂O₃. Было установлено, что можно использовать сканирующий туннельный микроскоп для исследования качества обработки поверхности. Также был рассмотрен случай перепада высот при переходе от материала стекла к материалу вставки Ni....
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2012
|
| Назва видання: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75293 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём / М.А. Цысарь // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2012. — Т. 10, № 2. — С. 343-349. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-75293 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-752932015-01-29T03:01:41Z Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём Цысарь, М.А. Представлены исследования стекла системы Ag₂O—B₂O₃. Было установлено, что можно использовать сканирующий туннельный микроскоп для исследования качества обработки поверхности. Также был рассмотрен случай перепада высот при переходе от материала стекла к материалу вставки Ni. Наведено дослідження скла системи Ag₂O—B₂O₃. Показано, що можливо використовувати сканувальний тунельний мікроскоп для дослідження якости оброблення поверхні. Також розглянуто випадок перепаду висот при переході від матеріялу скла до матеріялу вставки Ni. Investigation of Ag₂O—B₂O₃ glass is presented. As established, the method of scanning tunnelling microscopy can be used to determine a surface quality. A case of step on boundary between glass and Ni interlayer is also considered. 2012 Article Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём / М.А. Цысарь // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2012. — Т. 10, № 2. — С. 343-349. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. 1816-5230 PACS numbers: 07.79.Cz, 68.35.Ct, 68.37.Ef, 81.40.Pq, 81.65.Ps, 81.30.Tx http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75293 ru Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| description |
Представлены исследования стекла системы Ag₂O—B₂O₃. Было установлено, что можно использовать сканирующий туннельный микроскоп для исследования качества обработки поверхности. Также был рассмотрен случай перепада высот при переходе от материала стекла к материалу вставки Ni. |
| format |
Article |
| author |
Цысарь, М.А. |
| spellingShingle |
Цысарь, М.А. Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| author_facet |
Цысарь, М.А. |
| author_sort |
Цысарь, М.А. |
| title |
Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_short |
Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_full |
Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_fullStr |
Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_full_unstemmed |
Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| title_sort |
исследование стекла системы ag₂o—b₂o₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём |
| publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| publishDate |
2012 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75293 |
| citation_txt |
Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём / М.А. Цысарь // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2012. — Т. 10, № 2. — С. 343-349. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
| series |
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| work_keys_str_mv |
AT cysarʹma issledovaniesteklasistemyag2ob2o3metodomskaniruûŝejtunnelʹnojmikroskopiispoluprovodnikovymalmaznymostriëm |
| first_indexed |
2023-10-18T19:09:13Z |
| last_indexed |
2023-10-18T19:09:13Z |
| _version_ |
1796146146561753088 |