2025-02-23T17:40:52-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-75899%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T17:40:52-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-75899%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T17:40:52-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T17:40:52-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se

Кількісні параметри стохастично нанонеоднорідної структури аморфних плівок системи Ge—Se

Поєднанням метод електронної й атомно-силової мікроскопії визначено кількісні параметри наноструктури аморфних плівок системи Ge—Se: розміри неоднорідностей, висоту виступів та глибину впадин рельєфу поверхні, діаметри зерен або стовпчиків, розміри каналів між стовпчиками, розміри нанопор, ступінь...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Бобик, М.Ю., Іваницький, В.П., Ковтуненко, В.С., Сабов, В.І.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2013
Series:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75899
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:Поєднанням метод електронної й атомно-силової мікроскопії визначено кількісні параметри наноструктури аморфних плівок системи Ge—Se: розміри неоднорідностей, висоту виступів та глибину впадин рельєфу поверхні, діаметри зерен або стовпчиків, розміри каналів між стовпчиками, розміри нанопор, ступінь нанопористости. Встановлено, що нанонеоднорідності реалізуються завдяки наявності рельєфу поверхні досліджуваних зразків та їх нанопористости.

Similar Items