Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности
Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его СТС-изоб...
Збережено в:
| Дата: | 2014 |
|---|---|
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2014
|
| Назва видання: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75952 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 1. — С. 81-90. — Бібліогр.: 34 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-75952 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-759522015-02-07T03:01:19Z Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности Грушко, В. Новиков, Н. Чайка, А. Мицкевич, Е. Лысенко, О. Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его СТС-изображения, полученного при малых туннельных напряжениях. Представленная методика может использоваться при нанотехнологических операциях атомарной сборки логических элементов квантовых компьютеров, элементов наноэлектроники, при создании и изучении однофотонных источников и др. Наведено нову методику дослідження атомарної структури поверхні на основі методів сканівної тунельної мікроскопії (СТМ) і сканівної тунельної спектроскопії (СТС) з діамантовим зондом. В основу методики покладено ідею порівняння СТМ-зображення досліджуваної ділянки поверхні з її СТС-зображенням, одержаним за малих тунельних напруг. Наведена методика може використовуватися при нанотехнологічних операціях атомарного складання логічних елементів квантових комп’ютерів, елементів наноелектроніки, при створенні й вивченні однофотонних джерел тощо. A new technique to study the atomic structure of the surface on the basis of scanning tunnelling microscopy (STM) and scanning tunnelling spectroscopy (STS) with a diamond tip is represented. The technique is based on the idea of comparing STM images of the studied surface area with its STS-image obtained at low tunnelling voltages. The presented method can be used for fabrication of logic elements of quantum computers and elements of nanoelectron- ics, for development and study of the single-photon sources as well as for other nanotechnological operations. 2014 Article Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 1. — С. 81-90. — Бібліогр.: 34 назв. — рос. 1816-5230 PACSnumbers:07.35.+k,07.79.-Cz,68.37.Ef,73.40.Gk,73.63.Rt,81.05.uj,81.07.Lk http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75952 ru Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| description |
Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии
(СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его СТС-изображения, полученного при
малых туннельных напряжениях. Представленная методика может использоваться при нанотехнологических операциях атомарной сборки логических элементов квантовых компьютеров, элементов наноэлектроники, при создании и изучении однофотонных источников и др. |
| format |
Article |
| author |
Грушко, В. Новиков, Н. Чайка, А. Мицкевич, Е. Лысенко, О. |
| spellingShingle |
Грушко, В. Новиков, Н. Чайка, А. Мицкевич, Е. Лысенко, О. Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| author_facet |
Грушко, В. Новиков, Н. Чайка, А. Мицкевич, Е. Лысенко, О. |
| author_sort |
Грушко, В. |
| title |
Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_short |
Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_full |
Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_fullStr |
Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_full_unstemmed |
Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| title_sort |
новая стм/стс-методика исследования атомарной структуры поверхности |
| publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| publishDate |
2014 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75952 |
| citation_txt |
Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры
поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 1. — С. 81-90. — Бібліогр.: 34 назв. — рос. |
| series |
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| work_keys_str_mv |
AT gruškov novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnojstrukturypoverhnosti AT novikovn novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnojstrukturypoverhnosti AT čajkaa novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnojstrukturypoverhnosti AT mickeviče novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnojstrukturypoverhnosti AT lysenkoo novaâstmstsmetodikaissledovaniâatomarnojstrukturypoverhnosti |
| first_indexed |
2023-10-18T19:10:47Z |
| last_indexed |
2023-10-18T19:10:47Z |
| _version_ |
1796146215426981888 |