Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности
Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его СТС-изоб...
Збережено в:
Дата: | 2014 |
---|---|
Автори: | Грушко, В., Новиков, Н., Чайка, А., Мицкевич, Е., Лысенко, О. |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2014
|
Назва видання: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75952 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 1. — С. 81-90. — Бібліогр.: 34 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Информационно-измерительная система исследования процесса резания инструментом из СТМ
за авторством: Девин, Л.Н., та інші
Опубліковано: (2013) -
Новая методика исследования транспорта протонов в органических ионообменных мембранах
за авторством: Ткаченко, Т.В., та інші
Опубліковано: (2003) -
Новая методика мониторинга за сдвижением и деформациями земной поверхности и подрабатываемых объектов
за авторством: Хоружая, Н.В.
Опубліковано: (2011) -
СТМ-анализы поверхностной структуры графита, подвергнутого импульсному облучению осколками деления
за авторством: Козодаев, М.А., та інші
Опубліковано: (2000) -
Применение метода акустической эмиссии для исследования шлифования новыми кругами из СТМ
за авторством: Девин, Л.Н., та інші
Опубліковано: (2013)