2025-02-23T18:28:41-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-76411%22&qt=morelikethis&rows=5

2025-02-23T18:28:41-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-76411%22&qt=morelikethis&rows=5

2025-02-23T18:28:41-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK

2025-02-23T18:28:41-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок

З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особли...

Full description

Saved in:

Bibliographic Details
Main Authors:	Гомза, Ю.П., Клепко, В.В., Несін, С.Д., Лисенков, Е.А., Куницький, Ю.А., Барабаш, М.Ю., Хоменко, Л.Г.
Format:	Article
Language:	Ukrainian
Published:	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2009
Series:	Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Online Access:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76411
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!

id	irk-123456789-76411
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-764112015-10-31T21:00:05Z Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної природи. Technique for investigation of short-range ordering in ultrathin epitaxial films is realized using standard x-ray DRON-2.0 diffractometer in the geometry of parallel gliding beams under conditions of total external reflection. Peculiarities of short-range ordering in polymer and inorganic films of 200—500 nm in thickness on various substrates are studied. С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения. Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200—500 нм на подложках различной природы. 2009 Article Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. 1816-5230 PACS numbers: 07.85.Jy,61.05.cp,61.41.Vx,68.47.Pe,68.55.am,68.55.J-,81.70.Pg http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76411 uk Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Ukrainian
description	З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної природи.
format	Article
author	Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г.
spellingShingle	Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
author_facet	Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г.
author_sort	Гомза, Ю.П.
title	Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
title_short	Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
title_full	Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
title_fullStr	Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
title_full_unstemmed	Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
title_sort	рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
publisher	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
publishDate	2009
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76411
citation_txt	Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.
series	Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
work_keys_str_mv	AT gomzaûp rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT klepkovv rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT nesínsd rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT lisenkovea rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT kunicʹkijûa rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT barabašmû rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT homenkolg rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok
first_indexed	2023-10-18T19:12:03Z
last_indexed	2023-10-18T19:12:03Z
_version_	1796146262841491456

Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок

Similar Items