Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок
З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особли...
Збережено в:
| Дата: | 2009 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2009
|
| Назва видання: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76411 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-76411 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-764112015-10-31T21:00:05Z Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної природи. Technique for investigation of short-range ordering in ultrathin epitaxial films is realized using standard x-ray DRON-2.0 diffractometer in the geometry of parallel gliding beams under conditions of total external reflection. Peculiarities of short-range ordering in polymer and inorganic films of 200—500 nm in thickness on various substrates are studied. С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения. Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200—500 нм на подложках различной природы. 2009 Article Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. 1816-5230 PACS numbers: 07.85.Jy,61.05.cp,61.41.Vx,68.47.Pe,68.55.am,68.55.J-,81.70.Pg http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76411 uk Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Ukrainian |
| description |
З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані
експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної
природи. |
| format |
Article |
| author |
Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. |
| spellingShingle |
Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| author_facet |
Гомза, Ю.П. Клепко, В.В. Несін, С.Д. Лисенков, Е.А. Куницький, Ю.А. Барабаш, М.Ю. Хоменко, Л.Г. |
| author_sort |
Гомза, Ю.П. |
| title |
Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_short |
Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_full |
Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_fullStr |
Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_full_unstemmed |
Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| title_sort |
рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок |
| publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| publishDate |
2009 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76411 |
| citation_txt |
Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости
надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков,
Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. |
| series |
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| work_keys_str_mv |
AT gomzaûp rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT klepkovv rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT nesínsd rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT lisenkovea rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT kunicʹkijûa rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT barabašmû rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok AT homenkolg rentgenografíčnídoslídžennâblizʹkoívporâdkovanostinadtonkihplívok |
| first_indexed |
2023-10-18T19:12:03Z |
| last_indexed |
2023-10-18T19:12:03Z |
| _version_ |
1796146262841491456 |