Исследование радиационной стойкости детекторов ионизирующих излучений на основе CdTe и CdZnTe
В полупроводниковых детекторах ионизирующих излучений в процессе их эксплуатации создаются радиационные повреждения, которые ухудшают свойства приборов и могут вывести их из строя. В спектрометрах ухудшается энергетическое разрешение, увеличивается ток утечки, положение фотопика сдвигается в сторону...
Saved in:
| Date: | 2000 |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2000
|
| Series: | Вопросы атомной науки и техники |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/78200 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Исследование радиационной стойкости детекторов ионизирующих излучений на основе CdTe и CdZnTe / В.Е. Кутний, А.В. Рыбка, И.М. Прохорец, Л.Н. Давыдов, А.С. Абызов, А.Н. Довбня, С.П. Карасев, В.Л. Уваров, И.Н. Шляхов // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 4. — С. 212-214. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |