2025-02-23T21:15:36-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-7864%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T21:15:36-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-7864%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T21:15:36-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T21:15:36-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Определение параметров уровней прилипания, ответственных за фотоэлектретное состояние в пленках теллурида кадмия
В статье показана возможность определения параметров уровней прилипания, ответственных за фотоэлектретное состояние с помощью релаксационных кривых в пленках теллурида кадмия, легированных серебром....
Saved in:
Main Author: | Набиев, Г.А. |
---|---|
Format: | Article |
Language: | Russian |
Published: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2008
|
Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7864 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items
2025-02-23T21:15:36-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&rows=40&rows=5&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-7864%22&qt=morelikethis
2025-02-23T21:15:36-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&rows=40&rows=5&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-7864%22&qt=morelikethis
2025-02-23T21:15:36-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T21:15:36-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Similar Items
-
Фотоэлектретное состояние без внешнего поляризующего поля в однородных полупроводниках
by: Мирзаева, З.И., et al.
Published: (2008) -
Фотоелектрические свойства диодов на основе монокристаллического теллурида кадмия с модифицированной поверхностью
by: Александрюк, Т.Ю., et al.
Published: (2008) -
Влияние обработки водородом монокристаллов теллурида кадмия на их спектры оптического пропускания
by: Пигур, О.Н., et al.
Published: (2011) -
Теория АФН-эффекта с демберовским механизмом в полупроводниковых пленках
by: Набиев, Г.А.
Published: (2008) -
Техническая диагностика ответственных объектов
Published: (2011)