Рассеяние атомов на шероховатой поверхности

Теоретически исследовано рассеяние атомов на субмикроскопических геометрических дефектах поверхности клиновидного профиля. В качестве базовой модели принята схема зеркального отражения от поверхности. Устанавливается качественное различие закономерностей отражения от поверхности в вариантах, когда д...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Дата:2008
Автори: Долгов, А.С., Гетман, А.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2008
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7865
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Рассеяние атомов на шероховатой поверхности / А.С. Долгов, А.А. Гетман // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 1-2. — С. 98-104. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-7865
record_format dspace
spelling irk-123456789-78652010-04-21T12:01:53Z Рассеяние атомов на шероховатой поверхности Долгов, А.С. Гетман, А.А. Теоретически исследовано рассеяние атомов на субмикроскопических геометрических дефектах поверхности клиновидного профиля. В качестве базовой модели принята схема зеркального отражения от поверхности. Устанавливается качественное различие закономерностей отражения от поверхности в вариантах, когда дефект уподобляется «вмятине», либо “щели”. В рамках модели записаны точные формулы для распределения отраженных частиц по направлениям. Вводятся энергетические оценки развития процесса многократных соударений. Делаются прогнозы в отношении эволюции формы дефекта при продолжительном воздействии на поверхность. Указываются возможности управления этим процессом и использования потока отраженных от поверхности атомов как инструмента диагностики микрорельефа. Теоретично досліджено розсіяння атомів на субмікроскопічних геометричних дефектах поверхні клинуватого профілю. У ролі базової моделі прийнята схема дзеркального відбиття від поверхні. Установлюється якісна різниця закономірностей відбиття від поверхні у варіантах, коли дефект уподібнюється “вм’ятині”, або “щілині”. В рамках моделі записані точні формули для розподілу відбитих часток по напрямкам. Вводяться енергетичні оцінки розвинення процесу багаторазових співударянь. Робляться прогнози щодо еволюції форми дефекту при тривалому впливі на поверхню. Вказуються можливості керування цим процесом та використання потока відбитих атомів як інструменту діагностики мікрорельєфу поверхні. Atom dispersion on the submicroscopic geometrical wedge-shaped surface defects is theoretically investigated. Scheme of specular reflection from the surface is accepted as a base model. Qualitative differences of the surface reflection law with such types of defects as “dent” and “gap” are determinated. Accurate formulas for reflected particles direction distribution are written within the bounds of the model. Energy estimate of the multiple collision process is introduced. Defect form evolution prediction in the condition of continuous surface influence is made. 2008 Article Рассеяние атомов на шероховатой поверхности / А.С. Долгов, А.А. Гетман // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 1-2. — С. 98-104. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. 1999-8074 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7865 539.171 ru Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Теоретически исследовано рассеяние атомов на субмикроскопических геометрических дефектах поверхности клиновидного профиля. В качестве базовой модели принята схема зеркального отражения от поверхности. Устанавливается качественное различие закономерностей отражения от поверхности в вариантах, когда дефект уподобляется «вмятине», либо “щели”. В рамках модели записаны точные формулы для распределения отраженных частиц по направлениям. Вводятся энергетические оценки развития процесса многократных соударений. Делаются прогнозы в отношении эволюции формы дефекта при продолжительном воздействии на поверхность. Указываются возможности управления этим процессом и использования потока отраженных от поверхности атомов как инструмента диагностики микрорельефа.
format Article
author Долгов, А.С.
Гетман, А.А.
spellingShingle Долгов, А.С.
Гетман, А.А.
Рассеяние атомов на шероховатой поверхности
author_facet Долгов, А.С.
Гетман, А.А.
author_sort Долгов, А.С.
title Рассеяние атомов на шероховатой поверхности
title_short Рассеяние атомов на шероховатой поверхности
title_full Рассеяние атомов на шероховатой поверхности
title_fullStr Рассеяние атомов на шероховатой поверхности
title_full_unstemmed Рассеяние атомов на шероховатой поверхности
title_sort рассеяние атомов на шероховатой поверхности
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
publishDate 2008
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7865
citation_txt Рассеяние атомов на шероховатой поверхности / А.С. Долгов, А.А. Гетман // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 1-2. — С. 98-104. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT dolgovas rasseânieatomovnašerohovatojpoverhnosti
AT getmanaa rasseânieatomovnašerohovatojpoverhnosti
first_indexed 2023-10-18T16:38:31Z
last_indexed 2023-10-18T16:38:31Z
_version_ 1796139511125639168