Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”

Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”

We present a combination of an atomic force microscopy with a quartz-crystal tuning fork in ambient conditions. A silicon cantilever tip was attached to one prong of the tuning fork to realize shear-force and intermittent contact mode Fork-AFM operation. By electronically adjusting the quality facto...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2008
Автори: Vo Thanh Tung, Chizhik, S.A., Chikunov, V.V., Tran Xuan Hoai
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2008
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7881
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” / Vo Thanh Tung, S.A. Chizhik, V.V. Chikunov, Tran Xuan Hoai // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 210-215. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-7881
record_format dspace
spelling irk-123456789-78812010-04-21T12:02:11Z Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” Vo Thanh Tung Chizhik, S.A. Chikunov, V.V. Tran Xuan Hoai We present a combination of an atomic force microscopy with a quartz-crystal tuning fork in ambient conditions. A silicon cantilever tip was attached to one prong of the tuning fork to realize shear-force and intermittent contact mode Fork-AFM operation. By electronically adjusting the quality factor of the probe, called Q-control, it was possible to tune the quality factor Q and correspondingly change the overall scanning time. It was also seen that tuning fork with low quality factors could increase stability with the changed signal and so improve the imaging resolution. Measurements on the different samples were used to demonstrate this technique. У роботі описується конструкція атомносилового мікроскопа c датчиком у вигляді камертона на основі кварцового кристала. Кремнієве кантилеверне вістря було закріплено до зубця камертона таким чином, що дозволило реалізувати для камертонового АСМ латерально-силовой (shear-force) і напівконтактний (іntermіttent contact) режими. За допомогою системи електронного регулювання добротності зонда, так називаного Q-контролю, можливе настроювання параметра добротності Q і, відповідно, зміна повного часу сканування. Було помічено, що шляхом зменшення параметра добротності можна збільшити стабільність вимірюваного сигналу й у такий спосіб поліпшити розподіл для формованих зображень. Для демонстрації методики використовувалися зразки різних типів. В работе описывается конструкция атомносилового микроскопа c датчиком в виде камертона на основе кварцевого кристалла. Кремниевое кантилеверное острие было закреплено к зубцу камертона таким образом, что позволило реализовать для камертонного АСМ латерально-силовой (shear-force) и полуконтактный (intermittent contact) режимы. С помощью системы электронного регулирования добротности зонда, так называемого Q-контроля, возможна настройка параметра добротности Q и соответственно изменение полного времени сканирования. Было замечено, что путем уменьшения параметра добротности можно увеличить стабильность измеряемого сигнала и таким образом улучшить разрешение для формируемых изображений. Для демонстрации методики использовались образцы различных типов. 2008 Article Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” / Vo Thanh Tung, S.A. Chizhik, V.V. Chikunov, Tran Xuan Hoai // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 210-215. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. 1999-8074 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7881 681.2:515.16 en Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
description We present a combination of an atomic force microscopy with a quartz-crystal tuning fork in ambient conditions. A silicon cantilever tip was attached to one prong of the tuning fork to realize shear-force and intermittent contact mode Fork-AFM operation. By electronically adjusting the quality factor of the probe, called Q-control, it was possible to tune the quality factor Q and correspondingly change the overall scanning time. It was also seen that tuning fork with low quality factors could increase stability with the changed signal and so improve the imaging resolution. Measurements on the different samples were used to demonstrate this technique.
format Article
author Vo Thanh Tung
Chizhik, S.A.
Chikunov, V.V.
Tran Xuan Hoai
spellingShingle Vo Thanh Tung
Chizhik, S.A.
Chikunov, V.V.
Tran Xuan Hoai
Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”
author_facet Vo Thanh Tung
Chizhik, S.A.
Chikunov, V.V.
Tran Xuan Hoai
author_sort Vo Thanh Tung
title Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”
title_short Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”
title_full Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”
title_fullStr Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”
title_full_unstemmed Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”
title_sort investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
publishDate 2008
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7881
citation_txt Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” / Vo Thanh Tung, S.A. Chizhik, V.V. Chikunov, Tran Xuan Hoai // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 210-215. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT vothanhtung investigationthestructuredmaterialsurfacesusingthequartztuningforkbasedonanatomicforcemicroscopywithcontrollableqfactorintwomodesoperationintermittentcontactandshearforce
AT chizhiksa investigationthestructuredmaterialsurfacesusingthequartztuningforkbasedonanatomicforcemicroscopywithcontrollableqfactorintwomodesoperationintermittentcontactandshearforce
AT chikunovvv investigationthestructuredmaterialsurfacesusingthequartztuningforkbasedonanatomicforcemicroscopywithcontrollableqfactorintwomodesoperationintermittentcontactandshearforce
AT tranxuanhoai investigationthestructuredmaterialsurfacesusingthequartztuningforkbasedonanatomicforcemicroscopywithcontrollableqfactorintwomodesoperationintermittentcontactandshearforce
first_indexed 2023-10-18T16:38:33Z
last_indexed 2023-10-18T16:38:33Z
_version_ 1796139512294801408

Схожі ресурси