Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators
The updating of the detector systems developed at NPK LUTS for application to customs inspection systems based on 6…10 MeV accelerators is considered. Tests of a new updated detector system applied in an industrial introscope based on a 15 MeV accelerator have demonstrated a wider range of thickne...
Збережено в:
| Дата: | 2006 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2006
|
| Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/78859 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators / Yu.N. Gavrish, V.L. Novikov, A.V. Sidorov, A.M. Fialkovsky // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 2. — С. 154-156. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-78859 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-788592015-03-23T03:02:05Z Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators Gavrish, Yu.N. Novikov, V.L. Sidorov, A.V. Fialkovsky, A.M. Применение ускорителей в радиационных технологиях The updating of the detector systems developed at NPK LUTS for application to customs inspection systems based on 6…10 MeV accelerators is considered. Tests of a new updated detector system applied in an industrial introscope based on a 15 MeV accelerator have demonstrated a wider range of thickness of scanned (from 100…360 to 75…410 mm) objects at a resolution of 1-1T according to the radiographic ASTM standard. Рассматривается модернизация детекторной системы, разработанной в НПК ЛУЦ для инспекционно-досмотровых комплексов на базе ускорителей с энергией 6…10 МэВ. Испытания новой системы детектирования в промышленном интроскопе на базе ускорителя с энергией 15 МэВ показали увеличение диапазона толщин просвечиваемых объектов с 100…360 до 75…410 мм при уровне разрешения 11T по радиографическому стандарту ASTM. Розглядається модернізація детекторної системи, розробленої в НПК ЛУЦ для інспекціонно-досмотрових комплексів на базі прискорювачів з енергією 6...10 МеВ. Випробування нової системи детектування в промисловому інтроскопі на базі прискорювача з енергією 15 МеВ показали збільшення діапазону товщин просвічуваних об'єктів з 100...360 до 75...410 мм при рівні розділення 1-1T по радіографічному стандарту ASTM. 2006 Article Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators / Yu.N. Gavrish, V.L. Novikov, A.V. Sidorov, A.M. Fialkovsky // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 2. — С. 154-156. — англ. 1562-6016 PACS: 29.17.+w http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/78859 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| topic |
Применение ускорителей в радиационных технологиях Применение ускорителей в радиационных технологиях |
| spellingShingle |
Применение ускорителей в радиационных технологиях Применение ускорителей в радиационных технологиях Gavrish, Yu.N. Novikov, V.L. Sidorov, A.V. Fialkovsky, A.M. Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators Вопросы атомной науки и техники |
| description |
The updating of the detector systems developed at NPK LUTS for application to customs inspection systems
based on 6…10 MeV accelerators is considered. Tests of a new updated detector system applied in an industrial introscope
based on a 15 MeV accelerator have demonstrated a wider range of thickness of scanned (from 100…360
to 75…410 mm) objects at a resolution of 1-1T according to the radiographic ASTM standard. |
| format |
Article |
| author |
Gavrish, Yu.N. Novikov, V.L. Sidorov, A.V. Fialkovsky, A.M. |
| author_facet |
Gavrish, Yu.N. Novikov, V.L. Sidorov, A.V. Fialkovsky, A.M. |
| author_sort |
Gavrish, Yu.N. |
| title |
Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators |
| title_short |
Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators |
| title_full |
Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators |
| title_fullStr |
Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators |
| title_full_unstemmed |
Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators |
| title_sort |
updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| publishDate |
2006 |
| topic_facet |
Применение ускорителей в радиационных технологиях |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/78859 |
| citation_txt |
Updating of the detector system applied to the customs inspection systems based on electron accelerators / Yu.N. Gavrish, V.L. Novikov, A.V. Sidorov, A.M. Fialkovsky // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 2. — С. 154-156. — англ. |
| series |
Вопросы атомной науки и техники |
| work_keys_str_mv |
AT gavrishyun updatingofthedetectorsystemappliedtothecustomsinspectionsystemsbasedonelectronaccelerators AT novikovvl updatingofthedetectorsystemappliedtothecustomsinspectionsystemsbasedonelectronaccelerators AT sidorovav updatingofthedetectorsystemappliedtothecustomsinspectionsystemsbasedonelectronaccelerators AT fialkovskyam updatingofthedetectorsystemappliedtothecustomsinspectionsystemsbasedonelectronaccelerators |
| first_indexed |
2023-10-18T19:17:24Z |
| last_indexed |
2023-10-18T19:17:24Z |
| _version_ |
1796146512287236096 |