Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation
We have proposed a new model for the calculation of the absorbed dose profile in a thick target under 0.1…3 MeV electron irradiation. The build-up phenomenon is shown to increase the maximum of the energy deposition profile in thick samples by a factor of two in comparison with thin targets as a r...
Збережено в:
| Дата: | 2004 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2004
|
| Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/79072 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation / V.V. Gann, H.W. den Hartog, D.I. Vainshtein // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-79072 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-790722015-03-26T03:01:59Z Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation Gann, V.V. den Hartog, H.W. Vainshtein, D.I. Применение ускоренных пучков We have proposed a new model for the calculation of the absorbed dose profile in a thick target under 0.1…3 MeV electron irradiation. The build-up phenomenon is shown to increase the maximum of the energy deposition profile in thick samples by a factor of two in comparison with thin targets as a result of backscattered and multi-scattered electrons. The absorbed dose profile in NaCl for 0.5 MeV electron irradiation has been determined by measuring the stored energy with differential scanning calorimetry. Запропоновано нову модель для розрахунку профілів поглиненої енергії в товстих мішенях, що опромінюються пучком електронів з енергіями 0.1…3 МеВ. Показано, що внаслідок ефекту накопичування дози, зв'язаного з багаторазовим і зворотним розсіюванням електронів, максимальне значення поглиненої енергії у товстих мішенях збільшується вдвічі в порівнянні з тонкими мішенями. Вивчено профіль розподілу поглиненої енергії в кристалічній пластинці NaCl, опроміненої електронами з енергією 0.5 МеВ, шляхом вимірювання запасеної енергії методом диференціальної скануємої калориметрії. Предложена новая модель для расчета профилей поглощенной энергии в толстых мишенях, облучаемых пучком электронов с энергиями 0.1…3 МэВ. Показано, что вследствие эффекта накопления дозы, связанного с многократным и обратным рассеянием электронов, максимальное значение поглощенной энергии в толстых мишенях увеличивается вдвое по сравнению с тонкими мишенями. Изучен профиль распределения поглощенной энергии в кристаллической пластинке NaCl, облученной электронами с энергией 0.5 МэВ, путем измерения запасенной энергии методом дифференциальной сканирующей калориметрии. 2004 Article Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation / V.V. Gann, H.W. den Hartog, D.I. Vainshtein // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 61.80.Fe, 81.40.Wx http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/79072 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| topic |
Применение ускоренных пучков Применение ускоренных пучков |
| spellingShingle |
Применение ускоренных пучков Применение ускоренных пучков Gann, V.V. den Hartog, H.W. Vainshtein, D.I. Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation Вопросы атомной науки и техники |
| description |
We have proposed a new model for the calculation of the absorbed dose profile in a thick target under 0.1…3 MeV electron
irradiation. The build-up phenomenon is shown to increase the maximum of the energy deposition profile in thick samples by a
factor of two in comparison with thin targets as a result of backscattered and multi-scattered electrons. The absorbed dose profile
in NaCl for 0.5 MeV electron irradiation has been determined by measuring the stored energy with differential scanning
calorimetry. |
| format |
Article |
| author |
Gann, V.V. den Hartog, H.W. Vainshtein, D.I. |
| author_facet |
Gann, V.V. den Hartog, H.W. Vainshtein, D.I. |
| author_sort |
Gann, V.V. |
| title |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| title_short |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| title_full |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| title_fullStr |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| title_full_unstemmed |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| title_sort |
investigation of the energy deposition profile in nacl under electron irradiation |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| publishDate |
2004 |
| topic_facet |
Применение ускоренных пучков |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/79072 |
| citation_txt |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation / V.V. Gann, H.W. den Hartog, D.I. Vainshtein // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
| series |
Вопросы атомной науки и техники |
| work_keys_str_mv |
AT gannvv investigationoftheenergydepositionprofileinnaclunderelectronirradiation AT denhartoghw investigationoftheenergydepositionprofileinnaclunderelectronirradiation AT vainshteindi investigationoftheenergydepositionprofileinnaclunderelectronirradiation |
| first_indexed |
2023-10-18T19:17:52Z |
| last_indexed |
2023-10-18T19:17:52Z |
| _version_ |
1796146534136414208 |