2025-02-23T12:28:53-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-80402%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T12:28:53-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-80402%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T12:28:53-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T12:28:53-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Использование «локального подхода к разрушению» для прогнозирования влияния радиационного облучения на трещиностойкость реакторных сталей

Продемонстрирована возможность применения первопринципной версии «Локального подхода к разрушению» (ЛП) для прогнозирования падения трещиностойкости реакторных сталей после радиационного облучения. Показано, что в отличие от общепринятого ЛП предлагаемая версия «Локального подхода» позволяет не толь...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Котречко, С.А., Мешков, Ю.Я., Попович, В.А.
Format: Article
Language:Russian
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2005
Series:Вопросы атомной науки и техники
Subjects:
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/80402
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:Продемонстрирована возможность применения первопринципной версии «Локального подхода к разрушению» (ЛП) для прогнозирования падения трещиностойкости реакторных сталей после радиационного облучения. Показано, что в отличие от общепринятого ЛП предлагаемая версия «Локального подхода» позволяет не только получать температурную зависимость трещиностойкости облученной стали по результатам испытания малоразмерных образцов-свидетелей с надрезами, но и является удобным инструментом для анализа физических факторов, обуславливающих эффект изменения КІС в результате радиационного охрупчивания. Последнее позволило выделить три основных фактора, приводящих к падению КІС после облучения, а также проанализировать границы применимости «Muster curve»–подхода.