Использование «локального подхода к разрушению» для прогнозирования влияния радиационного облучения на трещиностойкость реакторных сталей
Продемонстрирована возможность применения первопринципной версии «Локального подхода к разрушению» (ЛП) для прогнозирования падения трещиностойкости реакторных сталей после радиационного облучения. Показано, что в отличие от общепринятого ЛП предлагаемая версия «Локального подхода» позволяет не толь...
Збережено в:
Дата: | 2005 |
---|---|
Автори: | , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2005
|
Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/80402 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Использование «локального подхода к разрушению» для прогнозирования влияния радиационного облучения на трещиностойкость реакторных сталей / С.А. Котречко, Ю.Я. Мешков, В.А. Попович // Вопросы атомной науки и техники. — 2005. — № 3. — С. 24-31. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | Продемонстрирована возможность применения первопринципной версии «Локального подхода к разрушению» (ЛП) для прогнозирования падения трещиностойкости реакторных сталей после радиационного облучения. Показано, что в отличие от общепринятого ЛП предлагаемая версия «Локального подхода» позволяет не только получать температурную зависимость трещиностойкости облученной стали по результатам испытания малоразмерных образцов-свидетелей с надрезами, но и является удобным инструментом для анализа физических факторов, обуславливающих эффект изменения КІС в результате радиационного охрупчивания. Последнее позволило выделить три основных фактора, приводящих к падению КІС после облучения, а также проанализировать границы применимости «Muster curve»–подхода. |
---|