2025-02-23T06:58:16-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-80587%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T06:58:16-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-80587%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T06:58:16-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T06:58:16-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Моделирование влияния осколков деления урана на материал оболочек тепловыделяющих элементов реакторов тяжелыми ионами высоких энергий

Образцы алюминия были облучены ионами ⁸⁴Kr с энергией 245 МэВ до флюенса 10¹⁴ ион/см² под различными углами к поверхности образца и ионами ¹²⁹Хе с энергией 124 МэВ до флюенса 10¹⁵ ион/см² перпендикулярно к поверхности образца. Методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии исследовали...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Хофман, А., Дидык, А.Ю., Семина, В.К., Штеке, В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2005
Series:Вопросы атомной науки и техники
Subjects:
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/80587
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:Образцы алюминия были облучены ионами ⁸⁴Kr с энергией 245 МэВ до флюенса 10¹⁴ ион/см² под различными углами к поверхности образца и ионами ¹²⁹Хе с энергией 124 МэВ до флюенса 10¹⁵ ион/см² перпендикулярно к поверхности образца. Методами сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии исследовали изменения структуры поверхности алюминия, облученного ионами ¹²⁹Хе, после отжига при температурах 250, 480 и 600°С и ионами ⁸⁴Kr непосредственно после облучения. Обнаружено, что при отжиге происходят различные изменения структуры поверхности имплантированного алюминия. При температуре отжига 250°С не наблюдается каких-либо структурных изменений поверхности. При 480°С появились маленькие ямки вдоль границ субзерен, а при 600°С на имплантированной поверхности видны микротрещины, маленькие ямки, пузырьки, блистеры, раковины, губчатая структура и чешуйки. После облучения ионами ⁸⁴Kr обнаружено появление трещин на поверхности алюминия при увеличении углов облучения, т.е. при приближении профиля залегания ионов криптона к поверхности. Обсуждается влияние температуры на подвижность ксенона и формирование пузырьков, а также образование микротрещин.