Dual energy method of material recognition in high energy introscopy systems
Element analysis based on so-called dual energy method is widely used throughout the world in X-ray customs inspection systems for luggage control in airports. It facilitates the routine work of customs officer on identification of illegal drugs and explosives hidden in luggage. Due to the absorptio...
Збережено в:
Дата: | 1999 |
---|---|
Автори: | Novikov, V.L., Ogorodnikov, S.A., Petrunin, V.I. |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
1999
|
Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/81505 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Dual energy method of material recognition in high energy introscopy systems/ V.L. Novikov, S.A. Ogorodnikov, V.I. Petrunin // Вопросы атомной науки и техники. — 1999. — № 4. — С. 93-95. — Бібліогр.: 2 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems
за авторством: Ryzhikov, V., та інші
Опубліковано: (2004) -
The dual method of programming
за авторством: A. M. Voronin, та інші
Опубліковано: (2022) -
A STUDY OF MATERIAL RECOGNITION ACCURACY BY RADIO WAVE METHODS
за авторством: Ovsyannikov, V. V., та інші
Опубліковано: (2023) -
Мechanisms of luminescence of amorphus dielectrics exposed to high-energy electrons
за авторством: Romanovsky, S.K., та інші
Опубліковано: (2018) -
Formation of MeV energy ion beams with high current density for materials micro-irradiation
за авторством: Romanenko, A.V., та інші
Опубліковано: (2013)