Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения

Предлагается метод прогнозирования остаточного ресурса электронных устройств после длительного хранения на основе DN-распределения наработки до отказа.

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
Дата:2004
Автор: Федухин, А.В.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут проблем математичних машин і систем НАН України 2004
Назва видання:Математичні машини і системи
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/83936
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения / А.В. Федухин // Мат. машини і системи. — 2004. — № 4. — С. 164-170. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine