Анізотропний модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалости кристалічних виробів нанотехнологій. ІІ. Дифузна складова динамічної картини розсіяння

• Date: 2008
• Main Authors: Молодкін, В.Б., Оліховський, С.Й., Шелудченко, Б.В., Лень, Є.Г., Когут, М.Т.
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2008
• Series: Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
• Online Access: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/87940
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Анізотропний модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалости кристалічних виробів нанотехнологій. ІІ. Дифузна складова динамічної картини розсіяння / В.Б. Молодкін, С.Й. Оліховський, Б.В. Шелудченко, Є.Г. Лень, М.Т. Когут // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2008. — Т. 6, № 3. — С. 807—827. — Бібліогр.: 18 назв. — укр.

В межах узагальненої динамічної теорії розсіяння Рентґенових променів у недосконалих кристалах розглянуто динамічне дифузне розсіяння (ДР) від крупних дефектів у випадку геометрії дифракції за Ляве. Одержано аналітичні вирази для диференційної та проінтеґрованої за вертикальною розбіжністю інтенсивностей ДР у кристалі з однорідно розподіленими дефектами, які створюють навколо себе анізотропні поля зміщень атомів матриці. Для дефектів ріжних типів і розмірів побудовано карти розподілу інтенсивности ДР у просторі оберненої ґратниці й продемонстровано вплив на їх вигляд інтеґрування за вертикальною розбіжністю Рентґенових променів.