Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент

На основе построенной в первой части работы обобщённой модели дисперсионночувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов произвольной толщины проведён анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для широкого интервала эффективных толщин кристалла....

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Видавець:	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Дата:	2015
Автори:	Лизунов, В.В., Кочелаб, Е.В., Скакунова, Е.С., Лень, Е.Г., Молодкин, В.Б., Олиховский, С.И., Толмачёв, Н.Г., Шелудченко, Б.В., Лизунова, С.В., Скапа, Л.Н.
Формат:	Стаття
Мова:	Russian
Опубліковано:	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2015
Назва видання:	Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Онлайн доступ:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/87995
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:	Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент / В.В. Лизунов, Е.В. Кочелаб, Е.С. Скакунова, Е.Г. Лень, В.Б. Молодкин, С.И. Олиховский, Н.Г. Толмачёв, Б.В. Шелудченко, С.В. Лизунова, Л.Н. Скапа // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 2. — С. 349–370. — Бібліогр.: 19 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	irk-123456789-87995
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-879952015-11-07T03:01:27Z Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент Лизунов, В.В. Кочелаб, Е.В. Скакунова, Е.С. Лень, Е.Г. Молодкин, В.Б. Олиховский, С.И. Толмачёв, Н.Г. Шелудченко, Б.В. Лизунова, С.В. Скапа, Л.Н. На основе построенной в первой части работы обобщённой модели дисперсионночувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов произвольной толщины проведён анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для широкого интервала эффективных толщин кристалла. На основі побудованої у першій частині роботи узагальненої моделі дисперсійночутливої дифрактометрії неідеальних кристалів довільної товщини проведено аналіз диференційних та інтеґральних картин розсіяння для широкого інтервалу ефективних товщин кристалу. Based on generalized model of dispersion-sensitive diffractometry constructed in the first part for imperfect crystals of arbitrary thickness, the analysis of differential and integral scattering patterns for a wide range of effective thickness of the crystal is carried out. 2015 Article Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент / В.В. Лизунов, Е.В. Кочелаб, Е.С. Скакунова, Е.Г. Лень, В.Б. Молодкин, С.И. Олиховский, Н.Г. Толмачёв, Б.В. Шелудченко, С.В. Лизунова, Л.Н. Скапа // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 2. — С. 349–370. — Бібліогр.: 19 назв. — рос. 1816-5230 PACS numbers: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.46.Hk, 61.72.Dd, 68.55.jd http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/87995 ru Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
description	На основе построенной в первой части работы обобщённой модели дисперсионночувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов произвольной толщины проведён анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для широкого интервала эффективных толщин кристалла.
format	Article
author	Лизунов, В.В. Кочелаб, Е.В. Скакунова, Е.С. Лень, Е.Г. Молодкин, В.Б. Олиховский, С.И. Толмачёв, Н.Г. Шелудченко, Б.В. Лизунова, С.В. Скапа, Л.Н.
spellingShingle	Лизунов, В.В. Кочелаб, Е.В. Скакунова, Е.С. Лень, Е.Г. Молодкин, В.Б. Олиховский, С.И. Толмачёв, Н.Г. Шелудченко, Б.В. Лизунова, С.В. Скапа, Л.Н. Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
author_facet	Лизунов, В.В. Кочелаб, Е.В. Скакунова, Е.С. Лень, Е.Г. Молодкин, В.Б. Олиховский, С.И. Толмачёв, Н.Г. Шелудченко, Б.В. Лизунова, С.В. Скапа, Л.Н.
author_sort	Лизунов, В.В.
title	Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент
title_short	Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент
title_full	Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент
title_fullStr	Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент
title_full_unstemmed	Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент
title_sort	дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. ii. численный эксперимент
publisher	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
publishDate	2015
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/87995
citation_txt	Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент / В.В. Лизунов, Е.В. Кочелаб, Е.С. Скакунова, Е.Г. Лень, В.Б. Молодкин, С.И. Олиховский, Н.Г. Толмачёв, Б.В. Шелудченко, С.В. Лизунова, Л.Н. Скапа // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 2. — С. 349–370. — Бібліогр.: 19 назв. — рос.
series	Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
work_keys_str_mv	AT lizunovvv dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment AT kočelabev dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment AT skakunovaes dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment AT lenʹeg dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment AT molodkinvb dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment AT olihovskijsi dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment AT tolmačëvng dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment AT šeludčenkobv dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment AT lizunovasv dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment AT skapaln dispersionnaâčuvstvitelʹnostʹkartinyrasseâniâkdefektamvzavisimostiottolŝinykristalličeskihizdelijnanotehnologijiičislennyjéksperiment
first_indexed	2023-10-18T19:36:43Z
last_indexed	2023-10-18T19:36:43Z
_version_	1796147432770240512

Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент

Репозиторії

Схожі ресурси