Измерение параметров движения интерференционным методом в широком диапазоне амплитуд перемещений
Предложена методика измерения перемещения элементов механических систем интерференционным методом при произвольном соотношении между длиной волны электромагнитного излучения и амплитудой перемещения. Данная методика позволяет исключить неоднозначность определения перемещения движущегося объекта из т...
Збережено в:
Дата: | 2008 |
---|---|
Автори: | , , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут технічної механіки НАН України і НКА України
2008
|
Назва видання: | Техническая механика |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/88045 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Измерение параметров движения интерференционным методом в широком диапазоне амплитуд перемещений / О.В. Пилипенко, Н.Б. Горев, Л.Г. Запольский, П.И. Заболотный, И.Ф. Коджеспирова, Е.Н. Привалов // Техническая механика. — 2008. — № 1. — С. 100-107. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | Предложена методика измерения перемещения элементов механических систем интерференционным методом при произвольном соотношении между длиной волны электромагнитного излучения и амплитудой перемещения. Данная методика позволяет исключить неоднозначность определения перемещения движущегося объекта из тригонометрического уравнения, связывающего расстояние от объекта до детектора и измеренный ток детектора. Методика проверена экспериментально путем измерения относительного перемещения металлического диска, приводимого в возвратно-поступательное движение кривошипно-шатунным механизмом. Показано, что предложенная реализация интерференционного метода позволяет измерять перемещение при колебательном движении с хорошей точностью даже в случае, когда размах колебаний в несколько раз превышает длину волны электромагнитного излучения, используемого при измерениях. |
---|