2025-02-23T18:50:04-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-97297%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T18:50:04-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-97297%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T18:50:04-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T18:50:04-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Неразрушающий контроль качественных параметров металлических поверхностей на основе оптоэлектронных датчиков

Неразрушающий контроль качественных параметров металлических поверхностей на основе оптоэлектронных датчиков

Предложен для определения качественных параметров металлических поверхностей оптоэлектронный метод, основанный на измерении светового потока, отраженного от поверхности контролируемого объекта,и его сравнении с аналогичной характеристикой эталона. Предложены два принципиальных схемотехнические решен...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Тожиев, Р.Ж., Рахимов, Н.Р., Махмудов, К.Г., Рузматов, Ш.К.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України 2002
Series:Автоматическая сварка
Subjects:
Неразрушающий контроль
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/97297
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:Предложен для определения качественных параметров металлических поверхностей оптоэлектронный метод, основанный на измерении светового потока, отраженного от поверхности контролируемого объекта,и его сравнении с аналогичной характеристикой эталона. Предложены два принципиальных схемотехнические решения.

Similar Items