Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности

Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности

Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухп...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2010
Автори: Евич, Н.Л., Прокопенко, Ю.В.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Радіоастрономічний інститут НАН України 2010
Назва видання:Радиофизика и радиоастрономия
Теми:
Прикладные аспекты радиофизики и электроники
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98189
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-98189
record_format dspace
spelling irk-123456789-981892016-04-11T03:02:08Z Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности Евич, Н.Л. Прокопенко, Ю.В. Прикладные аспекты радиофизики и электроники Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя Розглядаються можливості мікрохвильової метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці або у вільному просторі. Як випромінювач використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична пластина. Possibilities of millimeter wavelength microwave metrology for determination of thicknesses of flat layers of nonmagnetic dielectric materials placed on a metal substrate or in free space are considered. As a radiator, a bilateral short-circuited fragment of dielectric waveguide with interconnecting dielectric plate is used. Error estimates in determination of layer thickness and permittivity are given. 2010 Article Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. 1027-9636 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98189 621.371 ru Радиофизика и радиоастрономия Радіоастрономічний інститут НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Прикладные аспекты радиофизики и электроники
Прикладные аспекты радиофизики и электроники
spellingShingle Прикладные аспекты радиофизики и электроники
Прикладные аспекты радиофизики и электроники
Евич, Н.Л.
Прокопенко, Ю.В.
Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
Радиофизика и радиоастрономия
description Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя
format Article
author Евич, Н.Л.
Прокопенко, Ю.В.
author_facet Евич, Н.Л.
Прокопенко, Ю.В.
author_sort Евич, Н.Л.
title Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
title_short Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
title_full Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
title_fullStr Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
title_full_unstemmed Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
title_sort микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности
publisher Радіоастрономічний інститут НАН України
publishDate 2010
topic_facet Прикладные аспекты радиофизики и электроники
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98189
citation_txt Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.
series Радиофизика и радиоастрономия
work_keys_str_mv AT evičnl mikrovolnovojmetodopredeleniâtolŝindiélektričeskihmaterialovsispolʹzovaniemizlučatelâsoskanirovaniemdiagrammojnapravlennosti
AT prokopenkoûv mikrovolnovojmetodopredeleniâtolŝindiélektričeskihmaterialovsispolʹzovaniemizlučatelâsoskanirovaniemdiagrammojnapravlennosti
first_indexed 2023-10-18T19:58:57Z
last_indexed 2023-10-18T19:58:57Z
_version_ 1796148446286053376

Схожі ресурси