2025-02-23T17:25:50-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-98449%22&qt=morelikethis&rows=5

2025-02-23T17:25:50-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-98449%22&qt=morelikethis&rows=5

2025-02-23T17:25:50-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK

2025-02-23T17:25:50-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена

Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при их длительном хр...

Full description

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Удовицкий, В.Г.
Format:	Article
Language:	Russian
Published:	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2003
Series:	Физическая инженерия поверхности
Online Access:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98449
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!

id	irk-123456789-98449
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-984492016-04-15T03:02:26Z Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена Удовицкий, В.Г. Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при их длительном хранении, а также после многократных термообработок. Высказано предположение о возможности двухфазного состава пленок (одновременном существовании в них двух полиморфных модификаций), которое хорошо согласуется с наблюдаемыми особенностями дифрактограмм, а также экспериментальными результатами, опубликованными другими авторами. Наводяться результати рентгенівських досліджень кристалічної структури тонких плівок органічного напівпровідника – дибензотетрааза[14]анулену, конденсованих на не підігріті аморфні підкладки. Встановлено, що досконала текстура, яка спостерігається в плівках, залишається незмінною при їхньому тривалому зберіганні, а також після багаторазових термообробок. Висловлено припущення про можливість двохфазного складу плівок (одночасного існування в них двох поліморфних модифікацій), яке добре узгоджується з особливостями дифрактограм, а також експериментальними результатами, опублікованими іншими авторами. The results of X-ray crystal structure investigation of organic semiconductor – dibenzotetraaza[14]annulene as thin films are given. The thin films were deposited on unheated amorphous substrates by vacuum condensation. It is established that the films had high structural order (texture) which is stable during long-term preservation and also under repeated thermal treatment. Polymorphic structure (presence of two polymorphic modifications) for the films is assumed. The assumption has a good agreement with X-ray diffractogram peculiarities and experimental results published by other authors. 2003 Article Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. 1999-8074 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98449 ru Физическая инженерия поверхности Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
description	Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при их длительном хранении, а также после многократных термообработок. Высказано предположение о возможности двухфазного состава пленок (одновременном существовании в них двух полиморфных модификаций), которое хорошо согласуется с наблюдаемыми особенностями дифрактограмм, а также экспериментальными результатами, опубликованными другими авторами.
format	Article
author	Удовицкий, В.Г.
spellingShingle	Удовицкий, В.Г. Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена Физическая инженерия поверхности
author_facet	Удовицкий, В.Г.
author_sort	Удовицкий, В.Г.
title	Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
title_short	Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
title_full	Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
title_fullStr	Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
title_full_unstemmed	Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
title_sort	рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
publisher	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
publishDate	2003
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98449
citation_txt	Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
series	Физическая инженерия поверхности
work_keys_str_mv	AT udovickijvg rentgenovskoeissledovaniekristalličeskojstrukturytonkihplenokdibenzotetraaza14annulena
first_indexed	2023-10-18T19:59:45Z
last_indexed	2023-10-18T19:59:45Z
_version_	1796148473778667520

Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена

Similar Items