Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при их длительном хр...
Збережено в:
| Дата: | 2003 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2003
|
| Назва видання: | Физическая инженерия поверхности |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98449 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-98449 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-984492016-04-15T03:02:26Z Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена Удовицкий, В.Г. Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при их длительном хранении, а также после многократных термообработок. Высказано предположение о возможности двухфазного состава пленок (одновременном существовании в них двух полиморфных модификаций), которое хорошо согласуется с наблюдаемыми особенностями дифрактограмм, а также экспериментальными результатами, опубликованными другими авторами. Наводяться результати рентгенівських досліджень кристалічної структури тонких плівок органічного напівпровідника – дибензотетрааза[14]анулену, конденсованих на не підігріті аморфні підкладки. Встановлено, що досконала текстура, яка спостерігається в плівках, залишається незмінною при їхньому тривалому зберіганні, а також після багаторазових термообробок. Висловлено припущення про можливість двохфазного складу плівок (одночасного існування в них двох поліморфних модифікацій), яке добре узгоджується з особливостями дифрактограм, а також експериментальними результатами, опублікованими іншими авторами. The results of X-ray crystal structure investigation of organic semiconductor – dibenzotetraaza[14]annulene as thin films are given. The thin films were deposited on unheated amorphous substrates by vacuum condensation. It is established that the films had high structural order (texture) which is stable during long-term preservation and also under repeated thermal treatment. Polymorphic structure (presence of two polymorphic modifications) for the films is assumed. The assumption has a good agreement with X-ray diffractogram peculiarities and experimental results published by other authors. 2003 Article Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. 1999-8074 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98449 ru Физическая инженерия поверхности Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| description |
Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые
аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при
их длительном хранении, а также после многократных термообработок. Высказано предположение о
возможности двухфазного состава пленок (одновременном существовании в них двух полиморфных
модификаций), которое хорошо согласуется с наблюдаемыми особенностями дифрактограмм, а также
экспериментальными результатами, опубликованными другими авторами. |
| format |
Article |
| author |
Удовицкий, В.Г. |
| spellingShingle |
Удовицкий, В.Г. Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена Физическая инженерия поверхности |
| author_facet |
Удовицкий, В.Г. |
| author_sort |
Удовицкий, В.Г. |
| title |
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_short |
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_full |
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_fullStr |
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_full_unstemmed |
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| title_sort |
рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена |
| publisher |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України |
| publishDate |
2003 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98449 |
| citation_txt |
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена / В.Г. Удовицкий // Физическая инженерия поверхности. — 2003. — Т. 1, № 3-4. — С. 310–315. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
| series |
Физическая инженерия поверхности |
| work_keys_str_mv |
AT udovickijvg rentgenovskoeissledovaniekristalličeskojstrukturytonkihplenokdibenzotetraaza14annulena |
| first_indexed |
2023-10-18T19:59:45Z |
| last_indexed |
2023-10-18T19:59:45Z |
| _version_ |
1796148473778667520 |