Триплексная обработка покрытий из Al-Ni
В работе исследовались покрытия из Al-Ni, нанесенные высокоскоростной плазменной струей на подложку из технической меди с помощью Резерфордовского и обратного рассеяния ионов (РОР и ОР), ядерных реакций, растровой электронной микроскопии (РЭМ) с микроанализом, рентгенофазового анализа (РФА), микр...
Збережено в:
Дата: | 2005 |
---|---|
Автори: | , , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2005
|
Назва видання: | Физическая инженерия поверхности |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98762 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Триплексная обработка покрытий из Al-Ni / Б.П. Гриценко, Н.А. Погребняк, М.К. Кылышканов, А.Д. Погребняк, С.М. Дуванов, В.В. Понарядов // Физическая инженерия поверхности. — 2005. — Т. 3, № 3-4. — С. 190–198. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | В работе исследовались покрытия из Al-Ni, нанесенные высокоскоростной плазменной струей
на подложку из технической меди с помощью Резерфордовского и обратного рассеяния ионов
(РОР и ОР), ядерных реакций, растровой электронной микроскопии (РЭМ) с микроанализом,
рентгенофазового анализа (РФА), микротвердости и адгезии. Было обнаружено в нанесенном
покрытии концентрация Ni около 85%, остальные 15% относятся к Ni3
Al, Ni3
C и, возможно,
NiO. Адгезия покрытия к подложке составляет от 28 ± 2,2 до 45 ± 3 МРа, а микротвердость
различается очень сильно, от 65 ± 3,5 кг/мм2 до (3 ч 4,2)х102 кг/мм2
. Показано, что в результате
имплантации W в поверхностном слое обнаружено до 7,11 at%. После облучения электронным
пучком W проникает вглубь покрытия и в результате плавления поверхностного слоя покрытия
концентрация уменьшается. Определены эффективные коэффициенты диффузии W в покрытии. |
---|