Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали

С помощью электрохимических исследований показано, что на межфазных границах 10Х20Н9Г6/H₂SO₄ – 1 М, легированных x% масс. Y, при различных температурах существует полупроводниковый слой n-типа, обеспечивающий повышение коррозионной стойкости. Анализ импедансных данных в рамках теории Мотта-Шотт...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Видавець:	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Дата:	2007
Автори:	Нестеренко, С.В., Джелали, В.В.
Формат:	Стаття
Мова:	Russian
Опубліковано:	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2007
Назва видання:	Физическая инженерия поверхности
Онлайн доступ:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98836
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:	Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали / С.В. Нестеренко, В.В. Джелали // Физическая инженерия поверхности. — 2007. — Т. 5, № 3-4. — С. 228–237. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	irk-123456789-98836
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-988362016-04-19T03:02:15Z Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали Нестеренко, С.В. Джелали, В.В. С помощью электрохимических исследований показано, что на межфазных границах 10Х20Н9Г6/H₂SO₄ – 1 М, легированных x% масс. Y, при различных температурах существует полупроводниковый слой n-типа, обеспечивающий повышение коррозионной стойкости. Анализ импедансных данных в рамках теории Мотта-Шоттки указывает, что для данной системы полупроводниковая пленка вырождена, концентрация легирующей примеси ND превышает 1⋅10²⁷ м⁻³ и поэтому распределение носителей заряда подчиняется статистике Ферми-Дирака. Микроструктурные исследования, определение микрохимической неоднородности, состава и распределения НВ в наплавленном металле выполняли с помощью электронных микроскопов “Comebаx” фирмы “Comeсa” и “Comscan-4” с приставкой для микрорентгеноспектрального анализа “Link System 860”. Определение состава пассивных пленок проводили с помощью метода электронной ОЖЕ-спектроскопии на спектрометре JAMP-10S фирмы JEOL. Установлено, что сварные швы, микролегированные РЗМ, обладают в 3 – 4 раза большей коррозионной стойкостью по сравнению со сварными швами, полученными с помощью серийных электродов. Внаслідок електрохимічних досліджень було показано, що на міжфазових межах 10Х20Н9Г6/ H₂SO₄ – 1M, що бyли легіровані х% за масою Y, при різних температурах існує напівпровідниковий шар n-типу, що забезпечує підвищення корозійної стійкості. Аналіз даних імпедансу в рамках теорії Мотта-Шотткі свідчить, що для даної системи напівпровідникова плівка є виродженою, концентрація легіруючої домішки ND перевищує 1⋅10²⁷м⁻³, і тому розподіл носіїв заряду підкоряється статистиці Фермі-Дірака. Мікроструктурні дослідження, визначення мікрохимічної нерівномірності, складу та розподілу НВ у наплавленому металі виконували за допомогою електронних мікроскопів “Comebax” фірми “Comeca” та “Comscan-4” з пристрієм для мікрорентгеноструктурних аналізів “Link System 860”. Визначення складу пасивних плівок проводили за допомогою методу електронної Оже-спектроскопії на спектрометрі “JAMP-10S” фірми “JEOL”. Було встановлено, що зварювальні шви, що були мікролегіровані РЗМ, мають в 3 – 4 рази більшу корозійну стійкість в порівняннізізварювальними швами, що були виготовлені за допомогою серійних електродів. The thesis is paper to investigation of welds corrosion resistance of austenitic chrome-nickel (18-8) and chrome-nickel-molybdenum (18-8-2) stainless steel samples. The welds were micro-alloyed with rareearth metals (REM) and their compounds. Investigation has shown that the metal anodic solution was hindered and metal passivation occured more readily when welds were micro-alloyed by Y and/or its compounds and by complex mixture of Y and Ce. It was established that auto solution currents after full passivation REM-containing Cr-Ni-Mo metal are smaller than it has been observed for initial variant. Yttrium optimal content was 0,0025 – 0,0032 mass.%.A structural change leads to the micro-chemical heterogeneity decrease (especially for samples with Ni and Cr) and ensures continuous formation of passive protective films enriched with REM. The analysis of dependences Cω→∞^−2 = f(Е) were with usage of the theory Mott-Schottka’s and Grilikhes’s approach enabled to show that implantation Y in the chrome-nickel alloy converts its surface layer into the semi-conductor state. This remarkable fact leads to more uniform electrode potential distribution on metal surface of the welding compound and hinders local corrosion development. 2007 Article Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали / С.В. Нестеренко, В.В. Джелали // Физическая инженерия поверхности. — 2007. — Т. 5, № 3-4. — С. 228–237. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. 1999-8074 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98836 544.6:621.791.052:620.193 ru Физическая инженерия поверхности Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
description	С помощью электрохимических исследований показано, что на межфазных границах 10Х20Н9Г6/H₂SO₄ – 1 М, легированных x% масс. Y, при различных температурах существует полупроводниковый слой n-типа, обеспечивающий повышение коррозионной стойкости. Анализ импедансных данных в рамках теории Мотта-Шоттки указывает, что для данной системы полупроводниковая пленка вырождена, концентрация легирующей примеси ND превышает 1⋅10²⁷ м⁻³ и поэтому распределение носителей заряда подчиняется статистике Ферми-Дирака. Микроструктурные исследования, определение микрохимической неоднородности, состава и распределения НВ в наплавленном металле выполняли с помощью электронных микроскопов “Comebаx” фирмы “Comeсa” и “Comscan-4” с приставкой для микрорентгеноспектрального анализа “Link System 860”. Определение состава пассивных пленок проводили с помощью метода электронной ОЖЕ-спектроскопии на спектрометре JAMP-10S фирмы JEOL. Установлено, что сварные швы, микролегированные РЗМ, обладают в 3 – 4 раза большей коррозионной стойкостью по сравнению со сварными швами, полученными с помощью серийных электродов.
format	Article
author	Нестеренко, С.В. Джелали, В.В.
spellingShingle	Нестеренко, С.В. Джелали, В.В. Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали Физическая инженерия поверхности
author_facet	Нестеренко, С.В. Джелали, В.В.
author_sort	Нестеренко, С.В.
title	Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали
title_short	Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали
title_full	Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали
title_fullStr	Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали
title_full_unstemmed	Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали
title_sort	образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали
publisher	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
publishDate	2007
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98836
citation_txt	Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали / С.В. Нестеренко, В.В. Джелали // Физическая инженерия поверхности. — 2007. — Т. 5, № 3-4. — С. 228–237. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.
series	Физическая инженерия поверхности
work_keys_str_mv	AT nesterenkosv obrazovaniepoluprovodnikovojnanostrukturynapoverhnostiaustenitnojstali AT dželalivv obrazovaniepoluprovodnikovojnanostrukturynapoverhnostiaustenitnojstali
first_indexed	2023-10-18T20:00:37Z
last_indexed	2023-10-18T20:00:37Z
_version_	1796148513043644416

Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали

Репозиторії

Схожі ресурси