Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда

Экспериментально исследованы микроструктура и морфология границ зерен поликристаллического кремния полученного разными способами. Поверхность зерен размером 100 – 300 мкм изобилует выступами и микропустотами размером ∼ 10 мкм. На межзеренных границах имеются скопления примесей, определяющие совмес...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2010
Автори: Абдурахманов, Б.М., Олимов, Л.О., Абдуразаков, Ф.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2010
Назва видання:Физическая инженерия поверхности
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98848
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда / Б.М. Абдурахманов, Л.О. Олимов, Ф. Абдуразаков // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 1. — С. 72–76. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-98848
record_format dspace
spelling irk-123456789-988482016-04-19T03:02:21Z Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда Абдурахманов, Б.М. Олимов, Л.О. Абдуразаков, Ф. Экспериментально исследованы микроструктура и морфология границ зерен поликристаллического кремния полученного разными способами. Поверхность зерен размером 100 – 300 мкм изобилует выступами и микропустотами размером ∼ 10 мкм. На межзеренных границах имеются скопления примесей, определяющие совместно с зарядовыми состояниями ход температурной зависимости удельного сопротивления поликристаллического кремния. Експериментально досліджена мікроструктура та морфологія границь зерен полікристалічного кремнію отриманого різними способами. Поверхня зерен розміром 100 – 300 мкм покрита численними виступами та мікропорожнечами розміром ∼ 10 мкм. На міжзерених границях присутні скупчення домішок, що визначають разом із зарядовими станами хід температурної залежності питомого опору полікристалічного кремнію. Experimentally studied the microstructure and morphology of grain boundaries of polycrystalline silicon obtained by different methods. The surface of the grain size of 100 – 300 microns is replete with bumps and micro-sized voids? ∼ 10 microns. In between the grain boundaries are accumulations of impurities that determine the charge states with the temperature dependence of resistivity of polycrystalline silicon. 2010 Article Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда / Б.М. Абдурахманов, Л.О. Олимов, Ф. Абдуразаков // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 1. — С. 72–76. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. 1999-8074 PACS: 61.82.Fk; 61.72.Mm; 73.61.-r; 73.63.-b; 68.55.Ln; 61.72.-y; 61.72.Ff; 61.72.Hh; 61.72.Qq; 61.72.S-; 61.72.sd; 61.72.sh; 64.75.Qr; 64.75.St; 68.37.-d; 73.90.+f. http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98848 ru Физическая инженерия поверхности Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Экспериментально исследованы микроструктура и морфология границ зерен поликристаллического кремния полученного разными способами. Поверхность зерен размером 100 – 300 мкм изобилует выступами и микропустотами размером ∼ 10 мкм. На межзеренных границах имеются скопления примесей, определяющие совместно с зарядовыми состояниями ход температурной зависимости удельного сопротивления поликристаллического кремния.
format Article
author Абдурахманов, Б.М.
Олимов, Л.О.
Абдуразаков, Ф.
spellingShingle Абдурахманов, Б.М.
Олимов, Л.О.
Абдуразаков, Ф.
Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда
Физическая инженерия поверхности
author_facet Абдурахманов, Б.М.
Олимов, Л.О.
Абдуразаков, Ф.
author_sort Абдурахманов, Б.М.
title Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда
title_short Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда
title_full Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда
title_fullStr Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда
title_full_unstemmed Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда
title_sort микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
publishDate 2010
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98848
citation_txt Микроструктура межзеренных границ в поликристаллическом кремнии и ее влияние на перенос носителей заряда / Б.М. Абдурахманов, Л.О. Олимов, Ф. Абдуразаков // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 1. — С. 72–76. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.
series Физическая инженерия поверхности
work_keys_str_mv AT abdurahmanovbm mikrostrukturamežzerennyhgranicvpolikristalličeskomkremniiieevliânienaperenosnositelejzarâda
AT olimovlo mikrostrukturamežzerennyhgranicvpolikristalličeskomkremniiieevliânienaperenosnositelejzarâda
AT abdurazakovf mikrostrukturamežzerennyhgranicvpolikristalličeskomkremniiieevliânienaperenosnositelejzarâda
first_indexed 2023-10-18T20:00:39Z
last_indexed 2023-10-18T20:00:39Z
_version_ 1796148514321858560