Особенности формирования многослойных наноразмерных покрытий Со/С при создании рентгеновской изображающей системы работающей на длине волны I = 4,86 нм
Рассмотрены проблемы синтеза, аттестации и термической обработки периодических многослойных рентгеновских зеркал Со/С. Описан метод согласования отражения рентгеновского излучения в пределах полной апертуры двухзеркальной оптической системы-объектива Шварцшильда. Показано, что, установка диафрагмы...
Збережено в:
Дата: | 2012 |
---|---|
Автор: | Бугаев, Е.А. |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2012
|
Назва видання: | Физическая инженерия поверхности |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98930 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Особенности формирования многослойных наноразмерных покрытий Со/С при создании рентгеновской изображающей системы работающей на длине волны I = 4,86 нм / Е.А. Бугаев // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 1. — С. 59–67. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
О механизме уменьшения трения наноразмерных многослойных покрытий
за авторством: Григорьев, С.Н., та інші
Опубліковано: (2013) -
Создание градированного многослойного покрытия Со/С для изображающей системы в диапазоне "углеродного окна" (λ ~ 4,4 – 5,0 нм)
за авторством: Бугаев, Е.А.
Опубліковано: (2009) -
Модель диффузного коэффициента вертикального ослабления света на длине волны 490 нм для Черного моря на основе спутниковых данных
за авторством: Суслин, В.В., та інші
Опубліковано: (2011) -
Магниторезистивные свойства многослойных наноразмерных пленочных систем
за авторством: Сынашенко, О.В., та інші
Опубліковано: (2009) -
Features of the formation of multilayered nanoscale Co/C coatings when creating an X-ray imaging system operating at a wavelength λ = 4,86 nm
за авторством: E. A. Bugaev
Опубліковано: (2012)