Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення

В роботі встановлено вплив дефектів на пороутворення фосфіду індію, основні спостереження зроблено на основі аналізу ямок травлення, які утворюються під час електрохімічної обробки кристалу. Основний метод спостереження – растрова електронна мікроскопія, дозволив простежити дефектну структуру крис...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Дата:2012
Автор: Сичікова, Я.О.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2012
Назва видання:Физическая инженерия поверхности
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98934
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення / Я.О. Сичікова // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 1. — С. 85–89. — Бібліогр.: 7 назв. — укр.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-98934
record_format dspace
spelling irk-123456789-989342016-04-20T03:02:32Z Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення Сичікова, Я.О. В роботі встановлено вплив дефектів на пороутворення фосфіду індію, основні спостереження зроблено на основі аналізу ямок травлення, які утворюються під час електрохімічної обробки кристалу. Основний метод спостереження – растрова електронна мікроскопія, дозволив простежити дефектну структуру кристалу за формою та розміром ямок травлення. В работе установлено влияние дефектов на порообразование фосфида индия, основные наблюдения сделаны на основе анализа ямок травления, которые образовываются во время электрохимической обработки кристалла. Основной метод наблюдения – растровая электронная микроскопия, разрешил проследить дефектную структуру кристалла по форме и размером ямок травления. Influence of defects is in process set on порообразование of phosphide of indium, basic supervisions are done on the basis of analysis of fossils etch that appear during electrochemical treatment of crystal. Basic method of supervision – raster electronic microscopy, let to trace the imperfect structure of crystal in due form and measuring fossils of etch. 2012 Article Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення / Я.О. Сичікова // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 1. — С. 85–89. — Бібліогр.: 7 назв. — укр. 1999-8074 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98934 539.217; 544.723 uk Физическая инженерия поверхности Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Ukrainian
description В роботі встановлено вплив дефектів на пороутворення фосфіду індію, основні спостереження зроблено на основі аналізу ямок травлення, які утворюються під час електрохімічної обробки кристалу. Основний метод спостереження – растрова електронна мікроскопія, дозволив простежити дефектну структуру кристалу за формою та розміром ямок травлення.
format Article
author Сичікова, Я.О.
spellingShingle Сичікова, Я.О.
Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
Физическая инженерия поверхности
author_facet Сичікова, Я.О.
author_sort Сичікова, Я.О.
title Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
title_short Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
title_full Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
title_fullStr Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
title_full_unstemmed Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
title_sort дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
publishDate 2012
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98934
citation_txt Дослідження дефектної структури фосфіду індію за ямками травлення / Я.О. Сичікова // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 1. — С. 85–89. — Бібліогр.: 7 назв. — укр.
series Физическая инженерия поверхности
work_keys_str_mv AT sičíkovaâo doslídžennâdefektnoístrukturifosfíduíndíûzaâmkamitravlennâ
first_indexed 2023-10-18T20:00:50Z
last_indexed 2023-10-18T20:00:50Z
_version_ 1796148522301521920