Manko, D., Beliak, I., Kryuchyn, A., Ishchenko, R., & Zavarzina, V. (2025). Розроблення алгоритмів розпізнавання дефектів у структурі кодової послідовності на поверхні модуляційних дисків. The National Technical University of Ukraine "Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute". https://doi.org/10.20535/SRIT.2308-8893.2025.4.01
Chicago Style (17th ed.) CitationManko, Dmytro, Ievgen Beliak, Andriy Kryuchyn, Ruslan Ishchenko, and Valentyna Zavarzina. Розроблення алгоритмів розпізнавання дефектів у структурі кодової послідовності на поверхні модуляційних дисків. The National Technical University of Ukraine "Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute", 2025. https://doi.org/10.20535/SRIT.2308-8893.2025.4.01.
MLA (8th ed.) CitationManko, Dmytro, et al. Розроблення алгоритмів розпізнавання дефектів у структурі кодової послідовності на поверхні модуляційних дисків. The National Technical University of Ukraine "Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute", 2025. https://doi.org/10.20535/SRIT.2308-8893.2025.4.01.