ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему...
Збережено в:
| Видавець: | Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University |
|---|---|
| Дата: | 2008 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | rus |
| Опубліковано: |
Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University
2008
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Репозиторії
Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences| Резюме: | Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв. |
|---|