2025-02-22T15:30:23-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22mcmtechkpnueduua-article-23983%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T15:30:23-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22mcmtechkpnueduua-article-23983%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T15:30:23-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-22T15:30:23-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК

ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК

Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Положаенко, Сергей Анатольевич, Верлань, Андрей Анатольевич, Осман, Исам Хамид
Format: Article
Language:rus
Published: Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University 2008
Subjects:
діагностика
локалізація несправних підсхем
принцип декомпозиції.
Online Access:http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
id mcmtechkpnueduua-article-23983
record_format ojs
spelling mcmtechkpnueduua-article-239832019-03-05T15:23:11Z ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК Положаенко, Сергей Анатольевич Верлань, Андрей Анатольевич Осман, Исам Хамид діагностика локалізація несправних підсхем принцип декомпозиції. Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв. Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University 2008-06-05 Article Article application/pdf http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983 10.32626/2308-5916.2008-1.140-144 Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences; 2008: Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences. Issue 1; 140-144 Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки ; 2008: Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки. Випуск 1; 140-144 2308-5916 10.32626/2308-5916.2008-1 rus http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983/21515 Авторське право (c) 2021 Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки
institution Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences
collection OJS
language rus
topic діагностика
локалізація несправних підсхем
принцип декомпозиції.
spellingShingle діагностика
локалізація несправних підсхем
принцип декомпозиції.
Положаенко, Сергей Анатольевич
Верлань, Андрей Анатольевич
Осман, Исам Хамид
ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
topic_facet діагностика
локалізація несправних підсхем
принцип декомпозиції.
format Article
author Положаенко, Сергей Анатольевич
Верлань, Андрей Анатольевич
Осман, Исам Хамид
author_facet Положаенко, Сергей Анатольевич
Верлань, Андрей Анатольевич
Осман, Исам Хамид
author_sort Положаенко, Сергей Анатольевич
title ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_short ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_full ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_fullStr ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_full_unstemmed ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_sort локалізація несправних електронних підсхем методом навчальних і перевірочних характеристик
description Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв.
publisher Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University
publishDate 2008
url http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983
work_keys_str_mv AT položaenkosergejanatolʹevič lokalízacíânespravnihelektronnihpídshemmetodomnavčalʹnihíperevíročnihharakteristik
AT verlanʹandrejanatolʹevič lokalízacíânespravnihelektronnihpídshemmetodomnavčalʹnihíperevíročnihharakteristik
AT osmanisamhamid lokalízacíânespravnihelektronnihpídshemmetodomnavčalʹnihíperevíročnihharakteristik
first_indexed 2024-04-08T14:57:25Z
last_indexed 2024-04-08T14:57:25Z
_version_ 1795778931844972544

Similar Items