Влияние оптических свойств полупроводника и параметров профиля периодической поверхности на структуру плазмон-поляритонного резонанса в терагерцевом диапазоне

Приведены результаты экспериментальных и теоретических исследований подавления зеркального отражения при дифракции на решетке InSb терагерцевого излучения HCN-лазера в условиях плазмон-поляритонного резонанса. Исследована зависимость положения резонанса и его ширины от глубины штрихов решетки. Показ...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Радиофизика и радиоастрономия
Datum:2013
Hauptverfasser: Спевак, И.С., Тимченко, М.А., Гавриков, В.К., Каменев, Ю.Е., Шульга, В.М., Сан, Х.-Б., Фенг, Дж., Кац, А.В.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Радіоастрономічний інститут НАН України 2013
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100210
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Влияние оптических свойств полупроводника и параметров профиля периодической поверхности на структуру плазмон-поляритонного резонанса в терагерцевом диапазоне / И.С. Спевак, М.А. Тимченко, В.К. Гавриков, Ю.Е. Каменев, В.М. Шульга, Х.-Б. Сан, Дж. Фенг, А.В. Кац // Радиофизика и радиоастрономия. — 2013. — Т. 18, № 4. — С. 341-348. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Приведены результаты экспериментальных и теоретических исследований подавления зеркального отражения при дифракции на решетке InSb терагерцевого излучения HCN-лазера в условиях плазмон-поляритонного резонанса. Исследована зависимость положения резонанса и его ширины от глубины штрихов решетки. Показано, что диэлектрическая пленка, нанесенная на поверхность решетки, увеличивает ширину резонанса и смещает его максимум относительно точки Рэлея. Теоретические оценки, основанные на резонансной теории дифракции, хорошо согласуются с экспериментальными данными, что позволяет исследовать влияние параметров задачи на характеристики резонанса. Наводяться результати експериментальних і теоретичних досліджень заглушення дзеркального відбиття у дифракції на гратці Insb терагерцового випромінювання HCN-лазера в умовах плазмон-поляритонного резонансу. Досліджено залежність положення резонансу та його ширини від глибини штрихів гратки. Показано, що діелектрична плівка, нанесена на поверхню гратки, збільшує ширину резонансу та зсуває його максимум відносно точки Релея. Теоретичні оцінки, які грунтуються на резонансній теорії дифракції, добре узгоджуються з експериментальними результатами, що дозволяє досліджувати вплив параметрів задачі на характеристики резонансу. The results of experimental and theoretical studies of specular reflection suppression in diffraction of HCN-laser terahertz radiation on InSb grating under surface plasmon-polariton resonance condition are presented. Dependence of the resonance position and its width is investigated vs. grating depth. The dielectric film deposited on the grating surface is shown to increase the resonance width and shift its maximum away from the Rayleigh point. The resonance diffraction theory presented agrees well with the experimental results, thus allowing to investigate the influence of problem parameters on the resonance characteristics.
ISSN:1027-9636