Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний

Проведено моделирование деформации импульсных вольт-амперных характеристик (ВАХ) отдельного межкристаллитного потенциального барьера при переходных процессах поляризации/деполяризации, связанной с перезарядкой поверхностных электронных состояний, которые обусловливают этот барьер. Установлено, что в...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:2014
Автори: Тонкошкур, А.С., Иванченко, А.В.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2014
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100461
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний / А.С. Тонкошкур, А.В. Иванченко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 5-6. — С. 15-23. — Бібліогр.: 30 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-100461
record_format dspace
spelling Тонкошкур, А.С.
Иванченко, А.В.
2016-05-22T11:31:09Z
2016-05-22T11:31:09Z
2014
Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний / А.С. Тонкошкур, А.В. Иванченко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 5-6. — С. 15-23. — Бібліогр.: 30 назв. — рос.
2225-5818
DOI: 10.15222/TKEA2014.2.15
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100461
621.316.8
Проведено моделирование деформации импульсных вольт-амперных характеристик (ВАХ) отдельного межкристаллитного потенциального барьера при переходных процессах поляризации/деполяризации, связанной с перезарядкой поверхностных электронных состояний, которые обусловливают этот барьер. Установлено, что в зависимости от концентрации и степени заполнения этих поверхностных состояний электронами воздействие постоянного напряжения может привести к смещению импульсных ВАХ в область больших или же малых токов. Показана возможность применения найденных закономерностей для керамических варисторных структур. Предложенная модель позволяет интерпретировать наблюдаемые при испытаниях варисторов на ускоренное старение «аномальные» эффекты, такие как возрастание классификационного напряжения и уменьшение мощности активных потерь.
Проведено моделювання деформації імпульсних вольт-амперних характеристик (ВАХ) окремого міжкристалітного потенціального бар'єру під час перехідних процесів поляризації/деполяризації, пов'язаної з перезаряджанням поверхневих електронних станів, які обумовлюють цей бар'єр. Встановлено, що залежно від концентрації і ступеня заповнення цих поверхневих станів електронами вплив постійної напруги може привести до зміщення імпульсних ВАХ в область великих або ж малих струмів. Показано можливість застосування знайдених закономірностей для керамічних варисторних структур. Запропонована модель дозволяє інтерпретувати спостережувані при випробуваннях варисторов на прискорене старіння «аномальні» ефекти, такі як зростання класифікаційної напруги та зменшення потужності активних втрат.
Prolonged exposure of zinc oxide varistors to the electrical load leads to current-voltage characteristics (CVC) deformation, which is associated with a change in the height and width of the intergranular barriers, which are main structural element of the varistors. Polarization phenomena in zinc oxide ceramics are studied in a number of works, but those are mainly limited to the study of the physics of the CVC deformation process and to determining the parameters of localized electronic states involved in this process. This paper presents the results on the simulation of the deformation of pulse CVC of a separate intergranular potential barrier at transient polarization/depolarization, associated with recharging of surface electronic states (SES), which cause this barrier. It is found that at high density of SES their degree of electron filling is small and the effect of DC voltage leads to a shift of pulse current-voltage characteristics into the region of small currents. Conversely, the low density SES are almost completely filled with electrons, and after crystallite polarization CVC is shifted to high currents. Experimental studies have confirmed the possibility of applying the discovered laws to ceramic varistor structures. The proposed model allows interpreting the «anomalous» effects (such as increase in the classification voltage and reduction of active losses power) observed during the varistors accelerated aging test.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Функциональная микро- и наноэлектроника
Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний
Кінетика деформації ВАХ оксидних варисторних структур,обумовленої перезарядженням локалізованих станів
Kinetics deformation of current-voltage characteristics of the varistor oxide structures due to overcharging of the localized states
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний
spellingShingle Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний
Тонкошкур, А.С.
Иванченко, А.В.
Функциональная микро- и наноэлектроника
title_short Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний
title_full Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний
title_fullStr Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний
title_full_unstemmed Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний
title_sort кинетика деформации вах оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний
author Тонкошкур, А.С.
Иванченко, А.В.
author_facet Тонкошкур, А.С.
Иванченко, А.В.
topic Функциональная микро- и наноэлектроника
topic_facet Функциональная микро- и наноэлектроника
publishDate 2014
language Russian
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt Кінетика деформації ВАХ оксидних варисторних структур,обумовленої перезарядженням локалізованих станів
Kinetics deformation of current-voltage characteristics of the varistor oxide structures due to overcharging of the localized states
description Проведено моделирование деформации импульсных вольт-амперных характеристик (ВАХ) отдельного межкристаллитного потенциального барьера при переходных процессах поляризации/деполяризации, связанной с перезарядкой поверхностных электронных состояний, которые обусловливают этот барьер. Установлено, что в зависимости от концентрации и степени заполнения этих поверхностных состояний электронами воздействие постоянного напряжения может привести к смещению импульсных ВАХ в область больших или же малых токов. Показана возможность применения найденных закономерностей для керамических варисторных структур. Предложенная модель позволяет интерпретировать наблюдаемые при испытаниях варисторов на ускоренное старение «аномальные» эффекты, такие как возрастание классификационного напряжения и уменьшение мощности активных потерь. Проведено моделювання деформації імпульсних вольт-амперних характеристик (ВАХ) окремого міжкристалітного потенціального бар'єру під час перехідних процесів поляризації/деполяризації, пов'язаної з перезаряджанням поверхневих електронних станів, які обумовлюють цей бар'єр. Встановлено, що залежно від концентрації і ступеня заповнення цих поверхневих станів електронами вплив постійної напруги може привести до зміщення імпульсних ВАХ в область великих або ж малих струмів. Показано можливість застосування знайдених закономірностей для керамічних варисторних структур. Запропонована модель дозволяє інтерпретувати спостережувані при випробуваннях варисторов на прискорене старіння «аномальні» ефекти, такі як зростання класифікаційної напруги та зменшення потужності активних втрат. Prolonged exposure of zinc oxide varistors to the electrical load leads to current-voltage characteristics (CVC) deformation, which is associated with a change in the height and width of the intergranular barriers, which are main structural element of the varistors. Polarization phenomena in zinc oxide ceramics are studied in a number of works, but those are mainly limited to the study of the physics of the CVC deformation process and to determining the parameters of localized electronic states involved in this process. This paper presents the results on the simulation of the deformation of pulse CVC of a separate intergranular potential barrier at transient polarization/depolarization, associated with recharging of surface electronic states (SES), which cause this barrier. It is found that at high density of SES their degree of electron filling is small and the effect of DC voltage leads to a shift of pulse current-voltage characteristics into the region of small currents. Conversely, the low density SES are almost completely filled with electrons, and after crystallite polarization CVC is shifted to high currents. Experimental studies have confirmed the possibility of applying the discovered laws to ceramic varistor structures. The proposed model allows interpreting the «anomalous» effects (such as increase in the classification voltage and reduction of active losses power) observed during the varistors accelerated aging test.
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100461
citation_txt Кинетика деформации ВАХ оксидных варисторных структур, обусловленная перезарядкой локализованных состояний / А.С. Тонкошкур, А.В. Иванченко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 5-6. — С. 15-23. — Бібліогр.: 30 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT tonkoškuras kinetikadeformaciivahoksidnyhvaristornyhstrukturobuslovlennaâperezarâdkoilokalizovannyhsostoânii
AT ivančenkoav kinetikadeformaciivahoksidnyhvaristornyhstrukturobuslovlennaâperezarâdkoilokalizovannyhsostoânii
AT tonkoškuras kínetikadeformacíívahoksidnihvaristornihstrukturobumovlenoíperezarâdžennâmlokalízovanihstanív
AT ivančenkoav kínetikadeformacíívahoksidnihvaristornihstrukturobumovlenoíperezarâdžennâmlokalízovanihstanív
AT tonkoškuras kineticsdeformationofcurrentvoltagecharacteristicsofthevaristoroxidestructuresduetooverchargingofthelocalizedstates
AT ivančenkoav kineticsdeformationofcurrentvoltagecharacteristicsofthevaristoroxidestructuresduetooverchargingofthelocalizedstates
first_indexed 2025-12-02T13:39:09Z
last_indexed 2025-12-02T13:39:09Z
_version_ 1850862654399184896