Влияние эффективности исходных материалов на показатели надежности термоэлектрических охлаждающих устройств. Часть І: Однокаскадные ТЭУ

• Опубліковано в: : Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Дата: 2015
• Автори: Зайков, В.П., Мещеряков, В.И., Гнатовская, А.А., Журавлев, Ю.И.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
• Теми: Обеспечение тепловых режимов
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100478
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Влияние эффективности исходных материалов на показатели надежности термоэлектрических охлаждающих устройств. Часть І: Однокаскадные ТЭУ / В.П. Зайков, В.И. Мещеряков, А.А. Гнатовская, Ю.И. Журавлев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 1. — С. 44-48. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Рассмотрено влияние термоэлектрической эффективности исходных материалов модулей на показатели надежности термоэлектрического охлаждающего устройства (ТЭУ), функционирующего в граничных токовых режимах (Q0max и λmin) при различных значениях перепада температуры. Показано, что с ростом термоэлектрической эффективности материалов в модуле уменьшается интенсивность отказов ТЭУ, а следовательно, увеличивается вероятность его безотказной работы. Розглянуто вплив термоелектричної ефективності первинних матеріалів у модулі на показники надійності термоелектричного охолоджувального пристрою (ТЕП), який функціонує в умовах граничних токових режимів (Q0max и λmin) при різних перепадах температури. Показано, що із зростанням термоелектричної ефективності матеріалів в модулі зменшується інтенсивність відмов ТЕП, а відповідно, зростає вірогідність його безвідмовної роботи. The article presents research results on how thermoelectric efficiency modules affect the failure rate and the probability of non-failure operation in the range of working temperature of thermoelectric coolers. The authors investigate a model of relative failure rate and the probability of failure-free operation single-stage thermoelectric devices depending on the main relevant parameters: the operating current flowing through the thermocouple and resistance, temperature changes, the magnitude of the heat load and the number of elements in the module.