Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system

Modernization of horizontal low pressure deposition system has been performed. The liquid source delivery system using the bubblers has been developed. The PSG and BPSG film deposition processes and film properties using TEOS-Dimethylphosphite-TEB system have been studied. It is shown that the use o...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:2015
Hauptverfasser: Turtsevich, A.S., Nalivaiko, O.Y.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100479
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system / A.S. Turtsevich, O.Y. Nalivaiko // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 1. — С. 49-58. — Бібліогр.: 34 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862547412646625280
author Turtsevich, A.S.
Nalivaiko, O.Y.
author_facet Turtsevich, A.S.
Nalivaiko, O.Y.
citation_txt Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system / A.S. Turtsevich, O.Y. Nalivaiko // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 1. — С. 49-58. — Бібліогр.: 34 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Modernization of horizontal low pressure deposition system has been performed. The liquid source delivery system using the bubblers has been developed. The PSG and BPSG film deposition processes and film properties using TEOS-Dimethylphosphite-TEB system have been studied. It is shown that the use of dimethylphosphite allows varying the phosphorus concentration in the wide range. It is found that the optimal range of the total boron and phosphorus concentration ensuring the acceptable topology planarity and resistance to defect formation during storage is 8.7?0.3 wt% when the phosphorus concentration is 3.0—3.8 wt%. It is found that at use of the TEOS-DMP-TEB system the depletion of the phosphorus concentration along reaction zone does not occur, and the total dopant concentration is practically constant. At the same time the deposition rate of BPSG films is 9.0—10.0 nm/min and the good film thickness uniformity are ensured. The as-deposited films have “mirror-like surface” that is proof of minimal surface roughness. The BPSG films with optimal composition are characterized by the reduced reaction capability against atmospheric moisture. Проведена модернизация горизонтального реактора пониженного давления. Разработана система подачи жидкого реагента с использованием барботеров. Исследованы процессы осаждения пленок и свойства пленок ФСС и БФСС с использованием системы ТЭОС-диметилфосфит(ДМФ)-триметилборат(ТМФ). Проведено модернізацію горизонтального реактора зниженого тиску. Розроблено систему подачі рідкого реагенту з використанням барботерів. Досліджено процеси осадження плівок і властивості плівок ФСС і БФСС з використанням системи ТЕОС-діметілфосфіт(ДМФ)-тріметілборат(ТМФ).
first_indexed 2025-11-25T15:29:15Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-100479
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language English
last_indexed 2025-11-25T15:29:15Z
publishDate 2015
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Turtsevich, A.S.
Nalivaiko, O.Y.
2016-05-22T14:31:10Z
2016-05-22T14:31:10Z
2015
Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system / A.S. Turtsevich, O.Y. Nalivaiko // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 1. — С. 49-58. — Бібліогр.: 34 назв. — англ.
2225-5818
DOI: 10.15222/TKEA2015.1.49
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100479
621.315.612
Modernization of horizontal low pressure deposition system has been performed. The liquid source delivery system using the bubblers has been developed. The PSG and BPSG film deposition processes and film properties using TEOS-Dimethylphosphite-TEB system have been studied. It is shown that the use of dimethylphosphite allows varying the phosphorus concentration in the wide range. It is found that the optimal range of the total boron and phosphorus concentration ensuring the acceptable topology planarity and resistance to defect formation during storage is 8.7?0.3 wt% when the phosphorus concentration is 3.0—3.8 wt%. It is found that at use of the TEOS-DMP-TEB system the depletion of the phosphorus concentration along reaction zone does not occur, and the total dopant concentration is practically constant. At the same time the deposition rate of BPSG films is 9.0—10.0 nm/min and the good film thickness uniformity are ensured. The as-deposited films have “mirror-like surface” that is proof of minimal surface roughness. The BPSG films with optimal composition are characterized by the reduced reaction capability against atmospheric moisture.
Проведена модернизация горизонтального реактора пониженного давления. Разработана система подачи жидкого реагента с использованием барботеров. Исследованы процессы осаждения пленок и свойства пленок ФСС и БФСС с использованием системы ТЭОС-диметилфосфит(ДМФ)-триметилборат(ТМФ).
Проведено модернізацію горизонтального реактора зниженого тиску. Розроблено систему подачі рідкого реагенту з використанням барботерів. Досліджено процеси осадження плівок і властивості плівок ФСС і БФСС з використанням системи ТЕОС-діметілфосфіт(ДМФ)-тріметілборат(ТМФ).
en
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Материалы электроники
Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
Осаждение пленок борофосфоросиликатного стекла с использованием системы ТЭОС-диметилфосфит-триметилборат
Осадження плівок борофосфоросілікатного скла з використанням системи ТЕОС-діметилфосфіт-тртриметілборат
Article
published earlier
spellingShingle Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
Turtsevich, A.S.
Nalivaiko, O.Y.
Материалы электроники
title Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
title_alt Осаждение пленок борофосфоросиликатного стекла с использованием системы ТЭОС-диметилфосфит-триметилборат
Осадження плівок борофосфоросілікатного скла з використанням системи ТЕОС-діметилфосфіт-тртриметілборат
title_full Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
title_fullStr Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
title_full_unstemmed Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
title_short Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
title_sort deposition of borophosphosilicate glass films using the teos–dimethylphosphite–trimethylborate system
topic Материалы электроники
topic_facet Материалы электроники
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100479
work_keys_str_mv AT turtsevichas depositionofborophosphosilicateglassfilmsusingtheteosdimethylphosphitetrimethylboratesystem
AT nalivaikooy depositionofborophosphosilicateglassfilmsusingtheteosdimethylphosphitetrimethylboratesystem
AT turtsevichas osaždenieplenokborofosforosilikatnogosteklasispolʹzovaniemsistemytéosdimetilfosfittrimetilborat
AT nalivaikooy osaždenieplenokborofosforosilikatnogosteklasispolʹzovaniemsistemytéosdimetilfosfittrimetilborat
AT turtsevichas osadžennâplívokborofosforosílíkatnogosklazvikoristannâmsistemiteosdímetilfosfíttrtrimetílborat
AT nalivaikooy osadžennâplívokborofosforosílíkatnogosklazvikoristannâmsistemiteosdímetilfosfíttrtrimetílborat