Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии
Рассмотрены проблемы определения параметров надежности конструкций радиотехнических устройств в условиях воздействия механических и термических (внешних и внутренних) факторов, предложены методы расчета этих параметров для блоков, ячеек, микросборок. Предложены методы достижения максимальных значени...
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2015 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2015
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100558 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии / Б.М. Уваров, Ю.Ф. Зиньковский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 5-6. — С. 3-8. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-100558 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Уваров, Б.М. Зиньковский, Ю.Ф. 2016-05-23T19:22:32Z 2016-05-23T19:22:32Z 2015 Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии / Б.М. Уваров, Ю.Ф. Зиньковский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 5-6. — С. 3-8. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 DOI: 10.15222/TKEA2015.5-6.03 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100558 621.396.67.095 Рассмотрены проблемы определения параметров надежности конструкций радиотехнических устройств в условиях воздействия механических и термических (внешних и внутренних) факторов, предложены методы расчета этих параметров для блоков, ячеек, микросборок. Предложены методы достижения максимальных значений показателей надежности с помощью топологической оптимизации конструкции. The authors consider problems of determination of reliability parameters for designs of radio engineering devices (RED) under the influence of mechanical and thermal (external and internal) factors. Mechanical factors (linear acceleration, vibration, impact) cause mechanical effect on the outputs of elements of electronic structure (EES) and soldered connections, which can result in decrease of reliability. External thermal effects and internal heat release in the elements of the electronic structure of radioelectronic devices raises the temperature of these elements, thereby reducing the reliability not only of the elements, but of the device as a whole. The paper presents the methods for determination of versatility indicators of reliability depending on mechanical and thermal effects on REDs. Optimization of configuration of the cell (topology) using computer programs allows reducing mechanical and thermal effect on the outputs of EESs and to obtain maximum parameters of reliability of a design. The optimum topology of a cell obtained by such program is illustrated. As a result of optimization, reliability of cells has increased. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Электронные средства: исследования, разработки Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии Optimization of complex reliability indicator of wireless devices by changing their topology Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| spellingShingle |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии Уваров, Б.М. Зиньковский, Ю.Ф. Электронные средства: исследования, разработки |
| title_short |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_full |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_fullStr |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_full_unstemmed |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| title_sort |
оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии |
| author |
Уваров, Б.М. Зиньковский, Ю.Ф. |
| author_facet |
Уваров, Б.М. Зиньковский, Ю.Ф. |
| topic |
Электронные средства: исследования, разработки |
| topic_facet |
Электронные средства: исследования, разработки |
| publishDate |
2015 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Optimization of complex reliability indicator of wireless devices by changing their topology |
| description |
Рассмотрены проблемы определения параметров надежности конструкций радиотехнических устройств в условиях воздействия механических и термических (внешних и внутренних) факторов, предложены методы расчета этих параметров для блоков, ячеек, микросборок. Предложены методы достижения максимальных значений показателей надежности с помощью топологической оптимизации конструкции.
The authors consider problems of determination of reliability parameters for designs of radio engineering devices (RED) under the influence of mechanical and thermal (external and internal) factors. Mechanical factors (linear acceleration, vibration, impact) cause mechanical effect on the outputs of elements of electronic structure (EES) and soldered connections, which can result in decrease of reliability. External thermal effects and internal heat release in the elements of the electronic structure of radioelectronic devices raises the temperature of these elements, thereby reducing the reliability not only of the elements, but of the device as a whole. The paper presents the methods for determination of versatility indicators of reliability depending on mechanical and thermal effects on REDs. Optimization of configuration of the cell (topology) using computer programs allows reducing mechanical and thermal effect on the outputs of EESs and to obtain maximum parameters of reliability of a design. The optimum topology of a cell obtained by such program is illustrated. As a result of optimization, reliability of cells has increased.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100558 |
| citation_txt |
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии / Б.М. Уваров, Ю.Ф. Зиньковский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 5-6. — С. 3-8. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT uvarovbm optimizaciâkompleksnogopokazatelânadežnostiradiotehničeskihustroistvputemizmeneniâihtopologii AT zinʹkovskiiûf optimizaciâkompleksnogopokazatelânadežnostiradiotehničeskihustroistvputemizmeneniâihtopologii AT uvarovbm optimizationofcomplexreliabilityindicatorofwirelessdevicesbychangingtheirtopology AT zinʹkovskiiûf optimizationofcomplexreliabilityindicatorofwirelessdevicesbychangingtheirtopology |
| first_indexed |
2025-11-27T21:14:41Z |
| last_indexed |
2025-11-27T21:14:41Z |
| _version_ |
1850852833261256704 |