Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии

• Published in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Date: 2015
• Main Authors: Уваров, Б.М., Зиньковский, Ю.Ф.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
• Subjects: Электронные средства: исследования, разработки
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100558
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии / Б.М. Уваров, Ю.Ф. Зиньковский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 5-6. — С. 3-8. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Рассмотрены проблемы определения параметров надежности конструкций радиотехнических устройств в условиях воздействия механических и термических (внешних и внутренних) факторов, предложены методы расчета этих параметров для блоков, ячеек, микросборок. Предложены методы достижения максимальных значени...