Переохлаждение при кристаллизации висмута в многослойных плёнках Cu-Bi-Cu и C-Bi-C
В работе методами измерения электросопротивления и in situ электронографии проведено исследование фазовых переходов плавление-кристаллизация в тонких слоях висмута, находящихся между сплошными толстыми плёнками меди и углерода. Определены величины предельного переохлаждения жидкой фазы в исследуем...
Saved in:
| Published in: | Физическая инженерия поверхности |
|---|---|
| Date: | 2013 |
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2013
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100592 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Переохлаждение при кристаллизации висмута в многослойных плёнках Cu-Bi-Cu и C-Bi-C / С.В. Дукаров, С.И. Петрушенко, В.Н. Сухов, И.Г. Чурилов // Физическая инженерия поверхности. — 2013. — Т. 11, № 4. — С. 345–350. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | В работе методами измерения электросопротивления и in situ электронографии проведено исследование фазовых переходов плавление-кристаллизация в тонких слоях висмута, находящихся
между сплошными толстыми плёнками меди и углерода. Определены величины предельного
переохлаждения жидкой фазы в исследуемых слоистых системах. Обнаружены различия в
кинетике кристаллизации расплава висмута в медной и углеродной матрицах, обусловленные
различным контактным взаимодействием компонентов.
У роботі методами вимірювання електричного опору та in situ електронографії проведено дослідження фазових перетворень плавлення-кристалізація в тонких шарах вісмуту, що знаходяться
між суцільними товстими плівками міді та вуглецю. Визначено величини максимального переохолодження рідкоїфази в досліджуваних багатошарових плівках. Виявлено відмінності у кінетиці
кристалізації розплаву вісмуту у мідній та вуглецевій матрицях, обумовленні різною взаємодією
компонентів.
The paper, with the methods of measurement of electrical resistance and in situ electron diffraction,
was studied the phase transitions melting-crystallization in thin layers of bismuth, that are located between
thick continuous films of copper and carbon. It has been determined the value of limiting supercooling
during the crystallization of bismuth in contact with copper and carbon. There has been detected
the differences in the kinetics of crystallization of a melt of bismuth in the copper and carbon
matrixes which are caused by the various contact interaction of the components.
Key words: supercooling, hysteresis melting-crystallization, in situ electron diffraction.
|
|---|---|
| ISSN: | 1999-8074 |