Количественная оценка индивидуальной надежности оборудования и устройств энергосистемы

Предложен метод расчета показателей индивидуальной надежности оборудования и устройств электроэнергетических систем, основанный на имитационном моделировании случайных величин и теории проверки статистических гипотез. Приведены примеры поэтапного расчета показателей надежности как среднего арифметич...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Электронное моделирование
Datum:2013
Hauptverfasser: Фархадзаде, Э.М., Мурадалиев, А.З., Фарзалиев, Ю.З.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут проблем моделювання в енергетиці ім. Г.Є. Пухова НАН України 2013
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/100839
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Количественная оценка индивидуальной надежности оборудования и устройств энергосистемы / Э.М. Фархадзаде, А.З. Мурадалиев, Ю.З. Фарзалиев // Электронное моделирование. — 2013. — Т. 35, № 2. — С. 67-79. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Предложен метод расчета показателей индивидуальной надежности оборудования и устройств электроэнергетических систем, основанный на имитационном моделировании случайных величин и теории проверки статистических гипотез. Приведены примеры поэтапного расчета показателей надежности как среднего арифметического случайных величин. Запропоновано метод розрахунку показників індивідуальної надійності устаткування та пристроїв електроенергетичних систем, який базується на імітаційному моделюванні випадкових величин і теорії перевірки статистичних гіпотез. Наведено приклади розрахунку показників надійності як середнього арифметичного випадкових величин. A method has been proposed for calculation of indices of individual reliability of the power system equipment and devices. The method is based on simulation of random values and on the theory of testing the statistical hypotheses. The examples of calculation by stages of reliability indices as the arithmetic mean of random values have been presented.
ISSN:0204-3572