Integrated Circuit Delay Analysis for 500 Million Transistors: Parameter Optimization using Taguchi Approach
Delay analysis of 500 million transistor integrated circuit is optimized using test plan L8, in the form of an orthogonal array and a software for automatic design and analysis of experiments both based on the Taguchi approach. Optimal levels of physical parameters and key components, namely, the nu...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Электронное моделирование |
|---|---|
| Дата: | 2009 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут проблем моделювання в енергетиці ім. Г.Є. Пухова НАН України
2009
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/101433 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Integrated Circuit Delay Analysis for 500 Million Transistors: Parameter Optimization using Taguchi Approach / Evln Ranga Charyulu, K. Lal Kishore // Электронное моделирование. — 2009. — Т. 31, № 1. — С. 89-96. — Бібліогр.: 23 назв. — англ. |