Исследование электронно-ионной оптики электродных систем высоковольтного тлеющего разряда с использованием компьютерного анализа изображений
Предложена методика моделирования электродных систем высоковольтного тлеющего разряда, основанная на анализе яркости фотографий разряда. Граница анодной плазмы, разграничивающая светлую и темную области разряда, рассматривается как эмиттер ионов и как прозрачный для электронов электрод с заданным по...
Saved in:
| Date: | 2007 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут проблем моделювання в енергетиці ім. Г.Є. Пухова НАН України
2007
|
| Series: | Электронное моделирование |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/101624 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Исследование электронно-ионной оптики электродных систем высоковольтного тлеющего разряда с использованием компьютерного анализа изображений / И.В. Мельник // Электронное моделирование. — 2007. — Т. 29, № 1. — С. 45-58. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |