Часовий розвиток комбінаційного розсіювання світла при фазовому β → α-переході сірки
Досліджено особливості комбінаційного розсіювання світла при β → α-переході сірки для оптичної схеми “на відбиття”. Аналіз експериментальних результатів дозволив встановити часовий інтервал протікання перетворення та оцінити значення швидкості перекристалізації сірки. Исследовано особенности комбин...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физическая инженерия поверхности |
|---|---|
| Дата: | 2012 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2012
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/101882 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Часовий розвиток комбінаційного розсіювання світла при фазовому β → α-переході сірки / С.Д. Точилін // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 4. — С. 430-433. — Бібліогр.: 10 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Досліджено особливості комбінаційного розсіювання світла при β → α-переході сірки для оптичної схеми “на відбиття”. Аналіз експериментальних результатів дозволив встановити часовий інтервал протікання перетворення та оцінити значення швидкості перекристалізації сірки.
Исследовано особенности комбинационного рассеяния света при β → α-переходе серы для оптической схемы “на отражение”. Анализ экспериментальных результатов разрешил установить временной интервал протекания преобразования и оценить значение скорости перекристаллизации серы.
The features of Raman-scattered light have been investigated at β → α-transition of sulfur for the optical circuit “on reflection”. The analysis of experimental results has allowed to establish a time interval of course of transformation and to estimate a value of recrystallization speed of sulfur.
|
|---|---|
| ISSN: | 1999-8074 |