Анализ переходных процессов в радиационно облученых кремниевых p+nn+-структурах
На основе экспериментальных данных зависимости времени жизни неосновных носителей заряда от радиационного облучения сделано заключение, что зависимость Kτ0 /Kt(Ф) от ρ(Ф)/ρ(0) с высокой степенью достоверности (R² = 0,96) аппроксимируется прямой линией и по сути она очень близка к известной формуле...
Saved in:
| Published in: | Физическая инженерия поверхности |
|---|---|
| Date: | 2012 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2012
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/101888 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Анализ переходных процессов в радиационно облученых кремниевых p+nn+-структурах / А.З. Рахматов, А.В. Каримов // Физическая инженерия поверхности. — 2012. — Т. 10, № 4. — С. 392-396. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |