Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу

• Опубліковано в: : Техническая диагностика и неразрушающий контроль
• Дата: 2013
• Автори: Сучков, Г.М., Хащина, С.В., Десятниченко, А.В.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України 2013
• Теми: Научно-технический раздел
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/102006
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу / Г.М. Сучков, С.В. Хащина, А.В. Десятниченко // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2013. — № 4. — С. 44-47. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Описана универсальная ЭМА приставка для стандартных УЗ дефектоскопов и толщиномеров. Прибор позволяет повысить выявляемость дефектов, увеличить производительность контроля, при этом не требуется специальная зачистка
 поверхности изделия. Приведены основные технические характеристики приставки и описание ее компонентов: блока
 управления (формирователя радиосигналов), силового усилителя (генератора зондирующих импульсов), предварительного усилителя с узкополосным фильтром, органов управления и отображения настроек. Приставка позволяет
 плавно регулировать основные параметры выходных сигналов: частоты в пакете возбуждения от 0,2 до 1,5 МГц, частоты следования от 40 Гц и до частоты, ограниченной подключенным дефектоскопом, количества периодов частоты
 заполнения в пакете от 1 до 10, выходную мощность от 0 до 100 %. Приставка имеет широкий спектр применения в
 комплексе с различными приборами и преобразователями практически любого типа, в том числе пьезоэлектрическими,
 что позволяет повысить чувствительность контроля. Показан пример применения прибора со стандартным серийным
 дефектоскопом при контроле волнами Рэлея цилиндрического образца на наличие поверхностных и подповерхностных
 дефектов. Показано, что на расстоянии до 1 м выявляются модели трещин глубиной от 0,2 мм и более. Приставка имеет
 малые габариты и массу, общее энергопотребление приставки составляет не более 15 Вт, что является определяющим
 критерием при использовании ее в полевых условиях. The paper describes an all-purpose EMA-attachment for standard UT flaw detectors and thickness meters. The instrument allows
 increasing defect detectability, and improving testing efficiency, without requiring any special cleaning of item surface. Main
 technical parameters of the attachment and description of its components are given. The attachment allows smooth adjustment
 of the main parameters of output signals: frequency in excitation pack from 0.2 up to 1.5 MHz, repetition rate from 40 Hz and up
 to frequency limited by the connected flaw detector, number of filling frequency periods in the pack from 1 up to 10 and output
 power from 0 up to 100%. The attachment has a broad application spectrum in a set with various instruments and transducers
 of practically any type, also piezo electric ones. The paper gives an example of instrument application with standard batchproduced
 flaw detector at testing of a cylindrical sample by Raleigh waves for surface and subsurface defects. It is shown that
 crack models of the depth from 0.2 mm and more are detected at up to 1 m distance. The attachment has small size and weight
 that is the determinant criterion for its application in the field.